NRI-100紅外光譜折射率計分光計器儀器

NRI-100紅外光譜折射率計分光計器儀器

NRI-100紅外光譜折射率計

NRI-200色散紅外光譜評估系統(tǒng)

OD-10高濃度測定用分光光度計

ART-25光學(xué)元件測量裝置

臺式真空紫外光度計

NRI-100紅外光譜折射率計

NRI-200色散紅外光譜評估系統(tǒng)

OD-10高濃度測定用分光光度計

ART-25光學(xué)元件測量裝置

臺式真空紫外光度計

PRS-1受光元件響應(yīng)速度測量裝置

是測量光傳感器等受光元件的響應(yīng)速度的裝置。這是表示生成的載波能多快取出外部電路的值，以上升時間/下降時間表示。

下降時間是脈沖輸入光的值10%→90%上升時間，上升時間是脈沖輸入光的值90%→10%下降時間。裝置主要由脈沖LD、樣品室、DC電源、示波器、控制PC構(gòu)成，通過安裝在控制PC上的軟件對各部分進(jìn)行控制及測定。

LBC-2激光誘導(dǎo)電流測量裝置

本裝置是各種太陽能電池和光電轉(zhuǎn)換元件（SiPD、CCD、CMOS）的光電流分布測定裝置。

采用LBIC【Laser Beam Induced目前態(tài)】的測定方法。

搭載標(biāo)準(zhǔn)波長520nm激光器，將樣品移動到XY，測量短路電流（Isc）。空間分辨率約為10達(dá)到m

最多50×可以測量50mm的樣品。

特別是由鈣鈦礦太陽能電池等旋轉(zhuǎn)鍍膜法制作的太陽電池，在樣品面的中心和端部存在均勻性不同的問題，適合評價這樣的樣品。另外，在SiPD、CCD、CMOS等領(lǐng)域，也適用于涂層材料等的均勻性評價。

BIP-FETS FET測量裝置

是評價場效應(yīng)晶體管特性的裝置。從2個源極向樣品施加源極（VS）-漏極（VD）間電壓、源極（VS）-門（VG）電壓。

可以測量漏極電流，進(jìn)行ID–VSD特性測量和ID－VSG特性測量。根據(jù)測量的數(shù)據(jù)，可以算出移動度和閾值電壓。

另外，還計算漏極電流的接通斷開比。

規(guī)格：

待測樣品 FET（接觸頭等）

施加電壓控制 源極-漏極間電壓、源極-柵極間電壓

施加電壓范圍 0～±200V

最小施加電壓 ±10µV

施加電壓間隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V