摘要N9913AFieldFox手持式微波分析儀主要特性和功能?4 GHz zui大頻率?隨身攜帶功能齊全的手持式微波分析儀：標準型號包括電纜和天線分析儀?添加 VNA、頻譜分析儀、內置功率計和矢量電壓表等選件能夠擴展分析儀的功能?單次掃描同時測量 DTF 和 TDR 的...

摘要 N9912AFieldFox手持式射頻分析儀 zui大頻率4 or 6 GHzCAT/VNA 起始頻率2 MHzSA 起始頻率5 kHz動態(tài)范圍49 dB

摘要IM7587阻抗分析儀產(chǎn)品概述可信賴的機型3GHz● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz● 測量時間：zui快0.5ms（模擬測量時間）● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）● 基本精度：±0.65% rdg.● 緊湊主機僅機架一半大小，...

摘要IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品概述高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時間：zui快0.5ms，測量值偏差0.07%● 測量頻率：1MHz~1.3GHz● 測量時間：zui快0.5ms（模擬測量時間）● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）● 基本精度：&...

摘要IM7583阻抗分析儀產(chǎn)品概述高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時間：zui快0.5ms● 測量頻率：1MHz~600MHz● 測量時間：zui快0.5ms（模擬測量時間）● 基本精度：±0.65% rdg.● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小● ...

摘要 IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述zui快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

摘要IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述zui快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測量，節(jié)省空間的半個機架大小● 測量頻率1MHz~300MHz● 測量時間：zui快0.5ms● 基本精度±0.72%rdg.● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小● 豐富的接觸檢查功能（...

摘要IM3590化學阻抗分析儀產(chǎn)品概述用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容）● 適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源● 1臺機器即可實現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查● 可測量電池的無負載狀態(tài)產(chǎn)生的內部電阻●...

摘要IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量● 基本精度±0.08%的高精度測量●...

摘要IM3523 LCR測試儀產(chǎn)品概述應用于生產(chǎn)線和自動化測試領域的理想選擇● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試?！?..

摘要 3511-50 LCR測試儀產(chǎn)品概述精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）● 高精度： ± 0.08%● 內置比較器

摘要 3506-10 C測試儀產(chǎn)品概述對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量

摘要3504-60 C測試儀產(chǎn)品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的...

摘要3504-50 C測試儀產(chǎn)品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的...

摘要3504-40 C測試儀產(chǎn)品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的...

摘要 SAPEZK02微型阻抗變換器TEDS功能特點:低噪聲、兩線制、單端信號輸入4-20mA的恒流源供電、三種固定增益可供選擇*兼容IEEE1451.4 TEDS（傳感器電氣數(shù)據(jù)表）功能體積小、重量輕、密封性能好適合于遠距離、多點、智能化測試等場合

摘要86100C+86105C阻抗分析器o選項025 - 40 GHz選擇。AGILENT / HP 8722D 40GHZ矢量網(wǎng)絡分析器AGILENT / HP 8722ES 40GHZ矢量網(wǎng)絡分析器rode & SCHWARZ ZVK 40GHZ矢量網(wǎng)絡分析器安捷倫/...

摘要Agilent4192A低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網(wǎng)絡分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。測量信號 （23°~±5℃） 頻率范圍 5Hz~13MHz 頻率步進 0.01Hz（5Hz~10k...

摘要Agilent 4395A|HP4395A|HP-4395A 網(wǎng)絡/頻譜/阻抗分析儀 10Hz-500MHzAgilent 4395A為實驗室和生產(chǎn)制造應用提供優(yōu)異的矢量網(wǎng)絡、頻譜和可選的阻抗測量。只要有一臺這樣的儀器，就能進行通常評估元件和電路所需要的增益、相位、群...

摘要品牌: 安捷倫 型號: 4291A/B安捷倫4291A阻抗/材料分析儀簡介：選件：002頻率合成器決議200Hz 　　 004錄音機輸出Agilent 4291A Impedance / Material Analyzer技術指標：HP4291A HP4291A HP...

摘要產(chǎn)品名稱：阻抗測試儀生產(chǎn)廠商：安捷倫產(chǎn)品指標： 1MHz～3GHz%26nbsp產(chǎn)品信息：·1MHz～3GHz，以100KHz分檔·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ·在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性·基本精度為1%&#...

摘要4285A 安捷倫/惠普 LCR阻抗分析儀/精密LCR表主要特性與技術指標 頻率· 頻率范圍為75 kHz至30 MHz，以100 Hz步進基本精度· 0.1%基本精度測量時間· 高速測量：30 ms/測量
...

摘要廠商：惠普產(chǎn)品名稱：阻抗測試儀產(chǎn)品型號：4284A產(chǎn)品基本描述附件：·42841 A偏置電流電源偏置阻抗輸出：（23±5℃）；0.01A-20.0A基本阻抗精度：當與4284 A/4285A配用時為1%（1kHz-1MHz）接口：常規(guī)，可直接由42...

摘要產(chǎn)品名稱：4263B 二手阻抗測試儀 惠普4263B生產(chǎn)廠家：惠普4263B產(chǎn)品簡單描述：●基本精度為0.1% ●測試頻率為100 Hz、120 Hz、1kHz、10 kHz、100 kHz ●量程為20mV-1Vrms，以5mVrms分檔 ●具有測試信號電平監(jiān)視功...

摘要簡介：KEYSIGHT是德E4990A阻抗分析儀頻率20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，是德科技報價：典型配置價格US$ 21910美元，選件可以隨便加，但選件的不同價格也不一樣。所以在如此高昂的價格面前二手儀器就體現(xiàn)了的優(yōu)勢，不用等好幾個月的貨期...

摘要 發(fā)動機轉子交流阻抗測試儀原理是判斷發(fā)電機轉子繞組有無匝間短路的儀器，可以全自動、手動（單向或雙向）測量轉子繞組的電壓、電流、阻抗、功率、相位角等參數(shù)。

摘要 發(fā)電機轉子交流阻抗測試儀直銷價同步測量發(fā)電機轉速的功能，采用發(fā)電機轉速傳感器接口和超高速微處理器，使用“一鍵飛梭”＋快捷鍵的操作方式，功能更*，性能更*，使用更方便。具有工作可靠、操作簡便、測試精度高、小巧輕便等特點。

摘要 發(fā)電機轉子交流阻抗測試儀信息是判斷發(fā)電機轉子繞組有無匝間短路的儀器，可以全自動、手動（單向或雙向）測量轉子繞組的阻抗值、相鄰阻抗增量%、轉速、電壓、電流、阻抗、功率、相位角等參數(shù)。

摘要 四探針測試儀 四探針測量儀 四探針分析儀 帶電腦接口型號:DL10-SZT-2A

摘要 安捷倫Agilent4191A阻抗測試材料的阻抗Z，導納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質因數(shù)射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)　Verification Scheme of RFImpedance Measuring Instruments 　　JJG 2011-87

摘要 Agilent4288A 1 kHz/1 MHz 電容計主要技術指標 測量時間 ●高速測量：6.5ms 基本精度 ● C-D 測試： 0.07%，0.0005 更多特性 ●小型機柜尺寸

摘要 Agilent4339B 高電阻表?。獪y量范圍寬：1×103～1.6×1016Ω　?。獪y試夾具穩(wěn)定：比電阻盒，元件測試夾具　　＊測量速度高：10ms　?。礈y試順序編程　?。嬎汶娮杪省　。粶y器件可接地測量

摘要Agilent E4991A 射頻阻抗分析儀基本精度?基本精度 +/-0.8%掃描參數(shù)?頻率：1 MHz 至 3 GHz?振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms?DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 ...

摘要Agilent E4990A 阻抗分析儀，20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz?5 種頻率選件；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級?±0.08%（±0.045% 典型值）基本阻抗測量精度?25 m? 至...

摘要Agilent E4981A電容計測量時間?高速測量:2.3 ms（1 MHz）、3.0 ms（1 kHz）、11.0 ms（120 Hz）基本精度?精確的 C-D 測試： 0.07%，0.0005更多特性?9 倉室（Bin）分類器?256 多通道校正?SCPI 命令...

摘要 Agilent E4980A 精密LCR表頻率?在20Hz至2MHz范圍內提供4位分辨率顯示基本精度?對高低阻抗的高精度重復性測量基本精度為0.05%直流偏置?內置40V直流偏置（選件001）?Rdc 測量 （選件001）

摘要Agilent4287A RF LCR表，1 MHz 至 3 GHz頻率?1 MHz至3 GHz，100 kHz步進測量范圍?寬阻抗測量范圍：200 m ohm至3 k ohm基本測量精度?1%基本精度更多特性?在低測試信號電平時優(yōu)異的測量可重復性?高速測量： 9 m...

摘要 Agilent 4286A RF LCR表?1 MHz至1 GHz，10 kHz步進?1%基本精度?高速測量：15ms?帶有APC-3.5測試頭的1 m/3 m*電纜

摘要Agilent 4284A精密LCR測試儀頻率?頻率范圍為75 kHz至30 MHz，以100 Hz步進基本精度?0.1%基本精度測量時間?高速測量：30 ms/測量更多特性?恒定的電壓（V）或電流（I）測試信號電平?帶有42841A的10 A直流偏置?表格掃描測量能...

摘要Agilent4284A 精密 LCR 表，20 Hz 至 1 MHz20Hz-1MH*有8600個以上的測試頻率 ·0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率 ·恒定的V或I測試信號電平 ·20Vrms電平選件（選件001） ·用A...

摘要 GST-2017發(fā)電機轉子交流阻抗測試儀主要用于測試各種同步發(fā)電機轉子線圈在動、靜態(tài)下的轉子交流阻抗各功率損耗值。此判別發(fā)電機轉子線圈有無靜態(tài)各動態(tài)匝間短路的缺陷?？娠@示各打印交流抗特性曲線。并能與PC機聯(lián)機。實現(xiàn)數(shù)據(jù)下載和編輯測試報告的功能。適用于所有大小發(fā)電機組。

摘要 HP4191A射頻阻抗分析儀本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規(guī)定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。

摘要美國惠普 HP4192A 阻抗分析儀本公司是一家從事光通訊，電子射頻和微波通訊測試儀器的銷售、租賃、回收及維修的專業(yè)公司。主要經(jīng)營安捷倫（Agilent）,泰克（Tektronix）,福祿克（Fluke）, 安立（Anritsu） 等品牌的頻譜分析儀、網(wǎng)絡分析儀、綜合...

摘要 惠普4194A 阻抗/增益相位分析儀 HP4194A阻抗分析儀HP4194A阻抗分析儀是對元件和電路進行有效的測量、分析或合格/不合格測試的綜合性解決方案.

摘要HP4195A網(wǎng)絡/頻譜/阻抗分析儀HP4195A HP4195A | n e t w ork / spectrum analyzer Agilent 4195A, is for the development and production testing equip...