摘要 電子組件篩選設(shè)備

摘要 P系列多功能脈沖源表iv曲線測(cè)試儀國(guó)產(chǎn)品牌是在直流源表上的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能。最大輸出電壓達(dá)300V，最大脈沖輸出電流達(dá)30A，支持四象限工作

摘要SPA6100型IGBT單管參數(shù)分析儀iv+cv一鍵測(cè)配置有多種不同規(guī)格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據(jù)測(cè)試需求靈活配置不同規(guī)格，以及不同數(shù)量的搭配。全“芯”新品！SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，1200V/100A，一鍵執(zhí)行測(cè)試，...

摘要 P系列國(guó)產(chǎn)品牌高精度源表分辨率1pA是在直流源表上的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能。最大輸出電壓達(dá)300V，最大脈沖輸出電流達(dá)30A，支持四象限工作

摘要 普賽斯DC電壓電流源表iv曲線儀更大直流,更高精度,科研實(shí)驗(yàn)幣備源表,標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集,上位機(jī)軟件功能豐富,半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的經(jīng)典產(chǎn)品!

摘要普賽斯儀表功率半導(dǎo)體靜態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)國(guó)產(chǎn)品牌解決方案支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作，能夠在整個(gè)表征過(guò)程中實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征。同時(shí)，該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測(cè)試需求。從皮安級(jí)、mV級(jí)高精度源表到千安級(jí)、10kV源表，普賽斯的...

摘要國(guó)產(chǎn)品牌功率器件半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)不僅具備IV、CV、跨導(dǎo)等多元化的測(cè)試功能，還擁有高精度、寬測(cè)量范圍、模塊化設(shè)計(jì)以及便捷的升級(jí)擴(kuò)展等顯著優(yōu)勢(shì)。它能夠全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和...

摘要WD4000全自動(dòng)晶圓厚度測(cè)量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TT...

摘要 四象限電源微電流測(cè)試數(shù)字源表集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等功能于一體。可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器，波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作

摘要 LEUT-24-2、LEUT-24-3、LEUTWB-24-3、LOUGB-24-3原裝銷售，LOUT-24-3日本ARROW信號(hào)燈指示燈。

摘要 SPA6100國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀iv+cv曲線分析配置有多種不同規(guī)格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據(jù)測(cè)試需求靈活配置不同規(guī)格，以及不同數(shù)量的搭配。

摘要 分立元器件測(cè)試設(shè)備iv+cv曲線分析儀配置有多種不同規(guī)格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據(jù)測(cè)試需求靈活配置不同規(guī)格，以及不同數(shù)量的搭配。

摘要我們基于自主研發(fā)的高精度超細(xì)微納光纖拉錐機(jī)，為您提供專業(yè)化的微納光纖定制服務(wù)。該儀器以高精度、高穩(wěn)定性直線導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)為平臺(tái)，通過(guò)純氫氣火焰對(duì)光纖進(jìn)行加熱熔融，可精準(zhǔn)制備直徑為幾百微米到幾十納米的微納光纖，結(jié)合視覺(jué)跟蹤與功率監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，確保產(chǎn)品具備均勻性、高精度及穩(wěn)定性...

摘要太陽(yáng)能組件IV測(cè)試大電流源表四象限直流電源具備直流和脈沖輸出能力，蕞大脈沖輸出電流100A，蕞大輸出電壓100V，蕞大直流功率300W，蕞大脈沖功率5000W，支持四象限工作，輸出及測(cè)量精度均可達(dá)0.1%，可廣泛應(yīng)用于功率MOS測(cè)試、肖特基二極管測(cè)試、整流橋堆測(cè)試以及...

摘要 武漢普賽斯IC芯片開(kāi)短路測(cè)試數(shù)字源表精確提供和測(cè)量電壓和/或電流，廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測(cè)試中，如IV掃描；

摘要電流傳感器階躍響應(yīng)測(cè)試脈沖電源具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（15us）、支持兩路脈沖電壓測(cè)量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測(cè)試場(chǎng)合，使用該設(shè)備可以獨(dú)立完...

摘要 電子壓縮強(qiáng)度儀壓縮強(qiáng)度測(cè)定儀別名:電子壓縮強(qiáng)度測(cè)定儀

摘要 NPD-D紙張電子耐破度測(cè)試儀NPD-D紙張電子耐破度測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：NPD-DNPD-D紙張電子耐破度測(cè)試儀產(chǎn)品圖片：NPD-D紙張電子耐破度測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：用于測(cè)定各種紙板及單層和多層瓦楞紙板，也可用于絲綢、棉布等非紙質(zhì)材料的耐破強(qiáng)度測(cè)試

摘要NPD-D紙板耐破度測(cè)定儀產(chǎn)品型號(hào)：NPD-D產(chǎn)品用途：電子式紙板耐破度測(cè)定儀是紙和紙板強(qiáng)度性能檢測(cè)的基本儀器，其各項(xiàng)性能參數(shù)和技術(shù)指標(biāo)符合ISO2759《紙板—耐破度的測(cè)定》、GB1539《紙板耐破度的測(cè)定法》和ISO2758《紙—耐破度的測(cè)定》和GB454《紙耐破...

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：HYD-A產(chǎn)品用途：電子式壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)儀，主要適用紙張、紙板、片材、管材等邊壓、環(huán)壓、粘合強(qiáng)度以及紙管平壓強(qiáng)度,小物品的耐壓力檢驗(yàn)，是包裝、塑料橡膠片材、紙板和瓦楞紙板生產(chǎn)廠家以及有關(guān)科研院校、檢測(cè)機(jī)構(gòu)的重要測(cè)試儀器

摘要紙板耐破度測(cè)定儀產(chǎn)品型號(hào)：NPD-D（電子式）產(chǎn)品用途：電子式紙板耐破度測(cè)定儀是紙和紙板強(qiáng)度性能檢測(cè)的基本儀器，其各項(xiàng)性能參數(shù)和技術(shù)指標(biāo)符合ISO2759《紙板—耐破度的測(cè)定》、GB1539《紙板耐破度的測(cè)定法》和ISO2758《紙—耐破度的測(cè)定》和GB454《紙耐破...

摘要 紙張撕裂度儀產(chǎn)品型號(hào)：SLD-D（電子式）產(chǎn)品用途：本儀器用來(lái)測(cè)定紙和紙板的內(nèi)部撕裂阻抗或稱撕裂度，儀器的工作原理基于把被測(cè)試樣撕裂一定的長(zhǎng)度所消耗的功，在通常的情況下是用16張紙互相重迭在一起進(jìn)行撕裂試驗(yàn)的

摘要 電子軸偏差測(cè)量?jī)x用于食品、化妝品、藥品等行業(yè)各種玻璃瓶、塑料瓶、輸液瓶、注射劑瓶、瓷瓶容器的垂直軸偏差的測(cè)定。全自動(dòng)微電腦控制測(cè)試模式。

摘要 商品說(shuō)明自動(dòng)電子密度儀主要技術(shù)參數(shù)：　　▲采用進(jìn)口高精度電磁力平衡原理的稱重傳感器，具有靈敏度高、稱量準(zhǔn)確、重復(fù)性特點(diǎn)（與市面采用應(yīng)變片低廉傳感器，實(shí)在不是一個(gè)等級(jí)）

摘要 單根紗線拉伸強(qiáng)度及其不均勻率是代表紗線使用價(jià)值的主要質(zhì)量指標(biāo)之一，電子單紗強(qiáng)力儀是評(píng)價(jià)紗線、纖 維長(zhǎng)絲等拉伸性能技術(shù)指標(biāo)的儀器，電子單紗強(qiáng)力儀也稱電子單紗強(qiáng)力機(jī)。電

摘要 電子拉力計(jì) 簡(jiǎn)介： 電子拉力計(jì) 是一種小型多功能高精度的負(fù)荷測(cè)試儀器，電子拉力計(jì)適用于各種拉力、壓力、張力負(fù)荷測(cè)試，破壞試驗(yàn)等，本電子拉力計(jì)產(chǎn)品采用SMT生產(chǎn)，體積小巧，

摘要 一、概述：電(方波)刺激是生理藥理的實(shí)驗(yàn)方法之一

摘要 帶顯示的電子溫度開(kāi)關(guān)應(yīng)用機(jī)床液壓裝置冷卻液和潤(rùn)滑系統(tǒng)機(jī)械制造功能特性易于讀取

摘要 高壓小電流臺(tái)式電源標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作

摘要 KeysightN4431B射頻電子校準(zhǔn)件（ECal）可以快速、輕松和精確地對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)

摘要 N4693D電子校準(zhǔn)件（ECal），50GHz，2.4mm，2端口描述：KeysightN4693D微波電子校準(zhǔn)件（ECal）可以快速、輕松、精確地對(duì)是德科技矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)

摘要 ┃產(chǎn)品概述PRODUCTOVERVIEWFLDM01系列微波雷達(dá)測(cè)距模塊是弗林頓與清華大學(xué)團(tuán)隊(duì)共同推出的基于國(guó)產(chǎn)毫米波芯片的工業(yè)測(cè)距模塊

摘要 ┃產(chǎn)品概述PRODUCTOVERVIEWFLDM02系列120G雷達(dá)測(cè)距模塊是弗林頓基于進(jìn)口120G芯片研發(fā)的工業(yè)測(cè)距模塊

摘要 武漢通用型探針臺(tái)是一種具有廣泛適用性和多功能性的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備，可用于多種類型的器件測(cè)試和不同的測(cè)試場(chǎng)景。

摘要 武漢真空探針臺(tái)是一種用于在真空環(huán)境下對(duì)半導(dǎo)體器件、材料等進(jìn)行電性能測(cè)試等操作的儀器設(shè)備，且應(yīng)用范圍廣。

摘要 武漢高低溫測(cè)試探針臺(tái)用于評(píng)估芯片的溫度穩(wěn)定性和可靠性，適用于汽車電子、航空航天等對(duì)芯片工作溫度范圍有嚴(yán)格要求的領(lǐng)域。

摘要 武漢射頻測(cè)試探針臺(tái)是用于射頻微波器件、電路和系統(tǒng)測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備，可用于射頻芯片、微波器件等的封裝測(cè)試，需要具備良好的射頻屏蔽性能和高頻信號(hào)傳輸特性，以減少信號(hào)干擾和損耗

摘要 武漢直流測(cè)試探針臺(tái)是一種用于測(cè)量電路中直流電氣參數(shù)的儀器，主要用于半導(dǎo)體器件和集成電路的直流電性能測(cè)試，如電壓、電流和電阻等參數(shù)的測(cè)量。

摘要 武漢通用型封裝測(cè)試探針臺(tái)是用于半導(dǎo)體封裝測(cè)試環(huán)節(jié)的重要設(shè)備，對(duì)封裝后的裸 Die、多芯片模塊（MCM）進(jìn)行測(cè)試，如 Flip Chip 的凸點(diǎn)（Bump）接觸測(cè)試、2.5D/3D 封裝的 TSV（硅通孔）互連測(cè)試。

摘要 武漢半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一，主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等領(lǐng)域。

摘要 武漢探針臺(tái)分類講解可根據(jù)不同的技術(shù)特性、應(yīng)用場(chǎng)景和操作方式進(jìn)行多樣化分類，通過(guò)明確需求，可更精準(zhǔn)地匹配探針臺(tái)類型，提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性

摘要武漢探針臺(tái)應(yīng)用場(chǎng)景介紹（Probe Station）是半導(dǎo)體行業(yè)、電子封裝、材料研究等領(lǐng)域中用于晶圓級(jí)測(cè)試和器件特性分析的關(guān)鍵設(shè)備。其主要功能是通過(guò)探針與芯片或器件的引腳（Pad）接觸，實(shí)現(xiàn)電氣連接，從而對(duì)半導(dǎo)體器件、集成電路（IC）、光電子器件等進(jìn)行性能測(cè)試、參數(shù)測(cè)...

摘要 普賽斯S系列四象限直流電源VI曲線源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作

摘要 WD4000無(wú)圖晶圓粗糙度測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。

摘要華科智源半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，測(cè)試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測(cè)試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì)，封裝測(cè)試，軌道交通，電動(dòng)汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)等行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析...