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公司介紹主營產(chǎn)品

北京儀綜測業(yè)科技發(fā)展有限公司檢測中心是一家專業(yè)從事各類產(chǎn)品高低溫環(huán)境試驗、可靠性試驗、環(huán)境適應(yīng)性試驗、電磁兼容試驗、IP防護等級測試認(rèn)證、安規(guī)認(rèn)證、Modbus及Profibus-PA、ProfibusDP協(xié)議設(shè)備檢測認(rèn)證、功能安全評估、產(chǎn)品評測等試驗的綜合性的測試服務(wù)機構(gòu)，通過了中國合格評定國家認(rèn)可委員會（CNAS）審查、具備中國計量認(rèn)證資質(zhì)（CMA），可以為廣大企事業(yè)單位進(jìn)行各類產(chǎn)品摸底試驗、型式試驗，并出具國家認(rèn)可第三方產(chǎn)品檢測報告。

已取得的資質(zhì)
——中國合格評定國家認(rèn)可委員會（CNAS）認(rèn)可的實驗室（實驗室認(rèn)可編號：L3331）；
——*批準(zhǔn)并*的機械工業(yè)測量控制設(shè)備及網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量檢測中心；
——中國質(zhì)量認(rèn)證中心（簡稱CQC）委托檢測實驗室；
——TÜV萊茵技術(shù)（上海）有限公司認(rèn)可實驗室；
——北京鑒衡認(rèn)證中心認(rèn)可實驗室；
——PNO組織*的PROFIBUS DP/PA、PROFIDRIVE、PROFINET資格中心；
——MUDBUS-IDA組織*的MODBUS協(xié)議*性和互操作性測試中心；
——HART基金會*的HART協(xié)議*性測試資格中心；
——KNX組織*的KNX協(xié)議*性測試中心。

實驗室秉承：管理科學(xué)、公平公正；操作規(guī)范、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；安全保密、廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方檢測實驗室的職業(yè)道德，熱忱為廣大客戶提供標(biāo)準(zhǔn)、檢測、認(rèn)證公正的*服務(wù)。

目前實驗室可以進(jìn)行的檢測項目包括：

環(huán)境適應(yīng)性類試驗：高溫試驗、低溫試驗、濕熱試驗、溫度變化、交變濕熱、溫度沖擊/冷熱驟變試驗、寬溫變試驗、鹽霧腐蝕/銹蝕試驗等；
電磁兼容類試驗：靜電放電、射頻電磁場感應(yīng)的輻射抗擾度試驗、浪涌（雷擊試驗）、電快速瞬變脈沖群試驗、射頻電磁場感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度試驗、工頻磁場抗擾度試驗、電壓跌落抗擾度試驗、傳導(dǎo)發(fā)射試驗、諧波電流、電壓波動與閃爍、擾功率等EMC試驗；
IP防護等級試驗：IP54、IP55、IP65、IP66、IP67、IP68防護等級認(rèn)證及測試服務(wù)；
工業(yè)通信網(wǎng)絡(luò)試驗：Profibus-PA、Profibus DP協(xié)議設(shè)備的檢測及認(rèn)證；Modbus協(xié)議設(shè)備的檢測及認(rèn)證；
打印機、復(fù)印機、辦公一體機等辦公設(shè)備的節(jié)能產(chǎn)品認(rèn)證；
安規(guī)認(rèn)證：GB 4973|EIEC 60950《信息技術(shù)設(shè)備的安全》，GB 4793|IEC 61010《測量、控制設(shè)備及實驗室用電設(shè)備的安全》
灼熱燃燒試驗：熱絲引燃試驗、大電流起弧引燃試驗、可燃性試驗、灼熱燃油試驗等。

檢測中心符合ISO/IEC17025：2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求》（CNAS-CL01）《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》）的要求，具有中國*（CMA）計量認(rèn)證資格，可以出具具有證明作用的數(shù)據(jù)和結(jié)果。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

低溫實驗的目的于用來確定原件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸和貯存的能力。
高溫實驗的目的于用來確定原件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸和貯存的能力。
北京儀綜測業(yè)科技發(fā)展有限公司是一家專業(yè)進(jìn)行各類環(huán)境試驗的專業(yè)的第三方檢測機構(gòu)，屬*直屬單位，可以對各類產(chǎn)品進(jìn)行試驗。

北京通用儀器儀表環(huán)境適應(yīng)性檢測服務(wù)-計量檢測服務(wù) 產(chǎn)品詳情

北京電工電子產(chǎn)品高低溫測試

1、低溫試驗：

低溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007。只做：溫度≥-70℃。

2、高溫試驗：

高溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007。只做：溫度≤300℃。

3、恒定濕熱試驗：

濕熱試驗標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。

4、交變濕熱試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。

5、振動試驗：

振動試驗標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fi: 振動混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。

6、溫度變化試驗：

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗：

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009。

8、跌落試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990。

9、機械沖擊試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987。

10、碰撞試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

11、傾跌與翻倒：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。

12、砂塵試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定氣壓。

13、鹽霧試驗：

環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb:鹽霧，交變 GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996；

人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006；

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。

14、溫度沖擊試驗：

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

15、IP防護等級（外殼防護試驗）：

外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008，IEC 60529:2001；

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。

16、低溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。

17、高溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 GB/T 2423.59-2008。

19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 GB/T 2423.102-2008。

20、可靠性試驗：

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均*時間的驗證試驗方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；

設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；

設(shè)備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。

可靠性試驗第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；

可靠性試驗第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn)

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產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
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