膜厚儀在什么條件下測量更準(zhǔn)確？

基體金屬特性：
對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。
表面清潔度
測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

儀器適用范圍l  濕膜厚度檢測。l  干膜、硬涂層厚度檢測。l  玻璃、塑料、凝膠、光刻膠、電介質(zhì)厚度檢測。l  汽車工業(yè)中薄膜、光油、底漆厚度檢測。l  醫(yī)療設(shè)備中藥囊、藥品覆膜、包裝薄膜厚度檢測。l  光伏產(chǎn)業(yè)中透明導(dǎo)電氧化膜、減反射膜厚度檢測。l  食品包裝中卷式薄膜、液體隔離膜厚度檢測。三、   樣品要求l  薄膜在200-1100nm內(nèi)的某一波段可部分透光。l  薄膜厚度范圍：0.5um-100um（不同厚度范圍采用不同配置）。l  基底表面和薄膜表面平整光潔。四、產(chǎn)品配置l  主控制箱內(nèi)部包含光源、光譜儀、運動系統(tǒng)控制器。
通過USB線與電腦連接。
12V3A供電。