HAST試驗箱 光通信器件高壓加速老化檢測儀
產(chǎn)品詳情
HAST試驗箱(Highly Accelerated Stress Test)是面向光通信器件的高壓加速老化檢測設(shè)備。通過在密閉壓力容器內(nèi)施加高溫、高濕、高壓及可控偏壓,快速暴露器件在潮濕環(huán)境下的失效風(fēng)險,常用于光模塊、激光器、探測器、光纖連接器及封裝組件的可靠性驗證。
HAST試驗箱 光通信器件高壓加速老化檢測儀
用途
光通信器件耐濕氣、耐高壓、耐高溫老化篩選
芯片、封裝、PCB、焊點、膠層吸濕與腐蝕評估
量產(chǎn)前可靠性驗證、來料篩選、失效分析
配合偏壓測試,評估絕緣、漏電與電化學(xué)遷移
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:105℃~135℃(可擴展至150℃)
濕度范圍:60%~100% RH(飽和/非飽和)
壓力范圍:0.1~0.3 MPa(約1~3 atm)
控制精度:溫度±0.5℃,濕度±2% RH
內(nèi)箱尺寸:可定制,常見φ300×400mm等
偏壓通道:多路獨立,支持電壓/電流監(jiān)測
控制方式:PLC+觸摸屏,程序曲線、數(shù)據(jù)記錄、報警保護
箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
內(nèi)膽:316L不銹鋼,耐腐蝕、耐高壓
外箱:冷軋鋼板噴塑或不銹鋼拉絲
密封:耐高溫高壓密封圈,快開門結(jié)構(gòu)
保溫:高密度保溫層,減少熱損失
安全:安全閥、超壓保護、超溫保護、門聯(lián)鎖
性能特點
溫濕度壓力控制穩(wěn)定,波動小
升降溫快,恢復(fù)時間短
多路偏壓獨立控制,適配光器件測試
觸摸屏操作,支持程序編輯與數(shù)據(jù)導(dǎo)出
結(jié)構(gòu)緊湊,維護方便,適合實驗室與產(chǎn)線
技術(shù)優(yōu)勢
加速倍率高,幾十小時可模擬長期濕熱老化
非飽和控制更貼近實際失效機理
對光通信器件的低吸濕、低漏電要求適配性好
可定制腔體、夾具與偏壓方案
滿足標(biāo)準(zhǔn)
JESD22-A110(HAST)
JESD22-A118(無偏壓HAST)
IEC 60068-2-66
GB/T 2423.40
可配合MIL-STD、Telcordia等可靠性項目









































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