二維多點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x

一、測(cè)量原理

將綠色LED 光轉(zhuǎn)化為均一的平行光進(jìn)行照射。檢測(cè)出二維CMOS 上受光的明暗投影，然后測(cè)量其尺寸和角度等。

二、二維多點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x特點(diǎn)

1、實(shí)現(xiàn)由“點(diǎn)”到“面”，全范圍測(cè)量

傳統(tǒng)的激光掃描方式：激光掃描方式只能測(cè)量光點(diǎn)照射的 1 個(gè)位置。無法實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)同時(shí)測(cè)量或調(diào)整傾斜的測(cè)量。

二維多點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x

通過二維測(cè)量，可一次捕獲目標(biāo)物的全部信息。只有在二維條件下才能進(jìn)行的任意多點(diǎn)測(cè)量或邊調(diào)整傾斜邊進(jìn)行測(cè)量。

2、相機(jī)方式光軸無波動(dòng)，可測(cè)量點(diǎn)的尺寸

傳統(tǒng)的激光掃描方式

多面鏡的鏡面精度不同，每個(gè)取樣點(diǎn)的激光掃描軌跡也會(huì)不同。在激光掃描方式中，馬達(dá)勻速旋轉(zhuǎn)的性能同馬達(dá)的使用時(shí)間有關(guān)，隨著使用時(shí)間變長(zhǎng)，馬達(dá)勻速旋轉(zhuǎn)的性能將變差。傳統(tǒng)產(chǎn)品使用時(shí)間越長(zhǎng)，激光掃描軌跡的偏差就會(huì)越大。

二維多點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x

采用相機(jī)方式，閃動(dòng)一次快門即可測(cè)量整個(gè)范圍。 
產(chǎn)品無驅(qū)動(dòng)器，因此可測(cè)量點(diǎn)的尺寸。

3、高耐久性

傳統(tǒng)的激光掃描方式

因?yàn)橛序?qū)動(dòng)器，所以產(chǎn)品的耐久性較差，需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行維護(hù)。此外，傳統(tǒng)產(chǎn)品的光源存在被瞬間高電壓損壞的隱患。

二維多點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x

[ 無驅(qū)動(dòng)器 ] 
因產(chǎn)品無任何驅(qū)動(dòng)器，可實(shí)現(xiàn)高耐久性。這種設(shè)計(jì)克服了傳統(tǒng)激光掃描方式的弱點(diǎn)－馬達(dá)耐久性的問題。 
 

三、應(yīng)用范圍

技術(shù)解決方案：

產(chǎn)品用途：