布魯克VERTEX 70v

采用 RockSolid™ 準(zhǔn)直高性能干涉儀，能滿足從常規(guī)分析測(cè)量到科研領(lǐng)域的各種應(yīng)用需求。采用 UltraScan™ 真正準(zhǔn)直干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對(duì)業(yè)內(nèi)前沿的科研應(yīng)用設(shè)計(jì)的，它具備*的光譜分辨率、能實(shí)現(xiàn)目前業(yè)內(nèi)高水平的快速掃描和步進(jìn)掃描測(cè)量，能在廣的光譜范圍內(nèi)提供的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光譜儀*杜絕了大氣吸收對(duì)紅外測(cè)量的干擾，進(jìn)一步提高光譜質(zhì)量。

布魯克VERTEX 70v

杰出的性能

- 較高的光譜分辨率
- 較高的信噪比
- 較高的動(dòng)鏡掃描速度
- 全真空、可吹掃或密封干燥式光學(xué)臺(tái)克服大氣干擾
- 較多的軟件可控外光路擴(kuò)展接口
- 分束器更換簡(jiǎn)單快捷、無(wú)需重新調(diào)整干涉儀，實(shí)現(xiàn)紫外、可見(jiàn)光、近紅外及遠(yuǎn)紅外/太赫茲波段的譜區(qū)擴(kuò)展
- 全自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)配件及測(cè)量附件
- *的步進(jìn)掃描/慢掃描功能滿足光譜的時(shí)間分辨及各種調(diào)制應(yīng)用
- 遠(yuǎn)見(jiàn)性的設(shè)計(jì)可滿足當(dāng)前及未來(lái)的各種拓展需求

優(yōu)異的光譜分辨率

VERTEX 70v 光譜儀標(biāo)準(zhǔn)的光譜分辨率優(yōu)于0.4 cm-1，該分辨率可以滿足絕大多數(shù)固體、液體以及低溫下晶體樣品的測(cè)量。針對(duì)特殊的實(shí)驗(yàn)要求，例如常溫下氣態(tài)樣品的測(cè)量，VERTEX 70v 系列光譜儀的分辨率可以升
至 0.16 cm-1，通常情況下，該類(lèi)光譜圖典型的半峰寬不會(huì)小于 0.2 cm-1。