、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    HDYM-III絕緣子鹽密度測(cè)試儀用于電力系統(tǒng)防污閃檢測(cè)，是測(cè)量絕緣子表面等值附鹽密度（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“鹽密”）的測(cè)量?jī)x器，同時(shí)還可以測(cè)量溶液的電導(dǎo)率和溫度。整機(jī)以其測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、使用方便等特點(diǎn)廣泛地應(yīng)用于電力、教學(xué)、科研及其它相關(guān)行業(yè)。

    污穢等級(jí)的劃分和污穢等級(jí)分布圖的繪制是防污閃工作的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確的污穢等級(jí)分布圖是選擇輸、變電設(shè)備電瓷外絕緣爬距的依據(jù)。絕緣子表面等值附鹽密度值是判斷電瓷外絕緣污穢狀況嚴(yán)重程度的定量數(shù)據(jù)，是劃分污穢等級(jí)和繪制污區(qū)圖的重要依據(jù)之一。因此，鹽密測(cè)量工作對(duì)電力系統(tǒng)安全運(yùn)行有著重要的意義。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

    GB/T16434 – 1996《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污穢分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

    GB/T16434-200X《污穢條件下高壓絕緣子的選擇和尺寸確定第1部分：定義、信息和一般原則》

    Q/GDW152-2006《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污區(qū)分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

相關(guān)術(shù)語(yǔ)：

    1、參照盤(pán)形懸式絕緣子 reference cap and pin insulator

       XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤(pán)形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來(lái)測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度。

    2、爬電距離 creepage distance

        在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的距離。

        注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn) 為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。

    3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance（USCD）

        絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的運(yùn)行電壓（對(duì)于交流系統(tǒng)，為相電壓）之比，mm/kV。

    4、附鹽密度 salt deposit density（SDD）

        人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）NACL總量除以表面積，mg/cm²。

    5、等值附鹽密度 equivalent salt deposit density（ESDD）

        絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm²。

    6、不溶物密度（簡(jiǎn)稱(chēng)灰密） non soluble deposit density（NSDD）

        絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm²。

    7、現(xiàn)場(chǎng)等值鹽度 site equivalent salinity（SES）

        根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)時(shí)的鹽度。用該鹽度試驗(yàn)，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場(chǎng)自然污穢條件下的泄露電流基本相同。

    8、現(xiàn)場(chǎng)污穢度 site pollution severity（SPS）

        在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間段內(nèi)測(cè)量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的值。

    9、現(xiàn)場(chǎng)污穢度等級(jí) site pollution severity class

        將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級(jí)。

    10、帶電系數(shù)K1 energy coefficient K1

        同形式絕緣子帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值之比，K1一般為1.1~1.5。

二、功能特點(diǎn)

    (1)具有量程自動(dòng)切換功能，測(cè)量速度快（3s/次）。

    (2)測(cè)量范圍大，鹽密范圍0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2。

    (3)中英文界面可自主切換。

    (4)采用480*272(5英寸)彩色觸摸液晶屏幕。

    (5)可直接顯示并打印鹽密度、電導(dǎo)率、溫度、污穢等級(jí)、統(tǒng)一爬電比距。

    (6)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，直接顯示20℃時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)率和等值附鹽（ESDD）。

    (7)具有自動(dòng)祛除原溶液含鹽量的功能，降低了對(duì)清洗液的要求。

    (8)自動(dòng)將不帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）轉(zhuǎn)換為帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）。

    (9)可存儲(chǔ)10萬(wàn)組記錄，并可將記錄導(dǎo)出至U盤(pán)或通過(guò)打印機(jī)打印。

    (10)可查閱、刪除、導(dǎo)出單條記錄，也可刪除所有記錄。

    (11)內(nèi)置大容量充電鋰電池（2600mAh），適合野外現(xiàn)場(chǎng)使用。

三、產(chǎn)品參數(shù)

    3.1 測(cè)量范圍：

              鹽密：0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2（按X-4.5型絕緣子為準(zhǔn)）

              測(cè)量溫度：0℃～100℃

              測(cè)量電導(dǎo)率：0～200000μs/cm

    3.2 基本誤差：

             測(cè)量鹽密：分辨率0.0001 mg/cm2

             滿(mǎn)量程精度：±2%

             測(cè)量溫度：分辨率0.1℃，精度±0.5℃

             測(cè)量電導(dǎo)率：分辨率0.01μs/cm

    3.3 環(huán)境溫度：0℃～60℃。

    3.4 環(huán)境濕度:  <90%。

    3.5 體積與重量

            整機(jī)機(jī)箱尺寸：長(zhǎng)356mm*寬260mm*高133mm。

            整機(jī)重量：約2.5Kg。

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　主要是由于水分浸入交聯(lián)聚乙烯絕緣，在電場(chǎng)作用下形成樹(shù)枝狀物。水樹(shù)枝的特點(diǎn)是引發(fā)樹(shù)枝的空隙含有水分，且在較低的場(chǎng)強(qiáng)下發(fā)生。水樹(shù)枝的產(chǎn)生，將會(huì)使介質(zhì)損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降，電纜的壽命明顯縮短。目前國(guó)內(nèi)外對(duì)水樹(shù)枝的生長(zhǎng)研究尚不*。一般認(rèn)為，水樹(shù)枝的發(fā)展過(guò)程有以下幾種形式：
　　1）剩余應(yīng)變使水樹(shù)枝增長(zhǎng)。當(dāng)電纜在外加電壓下，若絕緣中含有水分，導(dǎo)體附近的絕緣材料中剩余的應(yīng)變就會(huì)增加，而應(yīng)變較大的局部區(qū)域便會(huì)生成水樹(shù)枝。
　　2）電場(chǎng)下的化學(xué)作用發(fā)展了水樹(shù)枝。
　　3）電泳與擴(kuò)散力的作用使水樹(shù)枝生長(zhǎng)。介質(zhì)電泳可以認(rèn)為是不帶電荷的，但是已經(jīng)極化的粒子或分子在畸變的電場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)，若絕緣中含有帶水分的雜質(zhì)，這些雜質(zhì)會(huì)向?qū)щ娋€芯附近的高電場(chǎng)區(qū)聚集。這一區(qū)域的溫度相對(duì)偏高，水分因此而膨脹，形成較大的壓力，使間隙擴(kuò)大，引起水樹(shù)枝的擴(kuò)大和發(fā)展。
　　電樹(shù)枝往往在絕緣內(nèi)部產(chǎn)生細(xì)微開(kāi)裂，形成細(xì)小的通道，并在放電通道的管壁上產(chǎn)生放電后的碳化顆粒。水樹(shù)枝的產(chǎn)生，將會(huì)使介質(zhì)損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降。因此，電纜中的電樹(shù)枝和水樹(shù)枝對(duì)電纜的電氣性能將會(huì)帶來(lái)嚴(yán)重的故障隱患。 1n
2　電纜試驗(yàn)
　　為了保證電纜安全可靠運(yùn)行，有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電纜的各種試驗(yàn)做了明確的規(guī)定。主要試驗(yàn)項(xiàng)目包括：測(cè)量絕緣電阻、直流耐壓和泄漏電流。其中測(cè)量絕緣電阻主要是檢驗(yàn)電纜絕緣是否老化、受潮以及耐壓試驗(yàn)中暴露的絕緣缺陷。直流耐壓和泄漏電流試驗(yàn)是同步進(jìn)行的，其目的是發(fā)現(xiàn)絕緣中的缺陷。但是近年來(lái)國(guó)內(nèi)外的試驗(yàn)和運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)證明：直流耐壓試驗(yàn)不能有效地發(fā)現(xiàn)交聯(lián)電纜中的絕緣缺陷，甚至造成電纜的絕緣隱患。德國(guó)Sechiswag公司在1978～1980年41個(gè)回路的10 kV電壓等級(jí)的XLPE電纜中，發(fā)生故障87次；瑞典的3 kV～24．5 kV電壓等級(jí)XLPE電纜投運(yùn)超出9 000 km，發(fā)生故障107次，國(guó)內(nèi)也曾多次發(fā)生電纜事故，相當(dāng)數(shù)量的電纜故障是由于經(jīng)常性的直流耐壓試驗(yàn)產(chǎn)生的負(fù)面效應(yīng)引起。因此，國(guó)內(nèi)外有關(guān)部門(mén)廣泛推薦采用交流耐壓取代傳統(tǒng)的直流耐壓。
IEC62067／CD要求對(duì)于220 kV電壓等級(jí)以上的交聯(lián)電纜不允許直流耐壓。
　　研究表明，直流耐壓試驗(yàn)時(shí)對(duì)絕緣的影響主要表現(xiàn)在：
　　1）電纜的局部絕緣氣隙部位由于游離產(chǎn)生的電荷在此形成電荷積累，降低局部電場(chǎng)強(qiáng)度，使這些缺陷難以發(fā)現(xiàn)。
　　2）試驗(yàn)電壓往往偏高，絕緣承受的電場(chǎng)強(qiáng)度較高，這種高電壓對(duì)絕緣是一種損傷，使原本良好的絕緣產(chǎn)生缺陷，而且，定期性的預(yù)防性試驗(yàn)使電纜多次受到高壓作用，對(duì)絕緣的影響形成積累效應(yīng)。 中文論文網(wǎng) -　　3）試驗(yàn)時(shí)，其電場(chǎng)分布是按體積電阻分布的，與緣狀況。
　　4）交聯(lián)電纜絕緣層易產(chǎn)生電樹(shù)枝和水樹(shù)枝，在直流電壓下易造成電樹(shù)枝放電，加速絕緣老化。
　　交流耐壓試驗(yàn)由于試驗(yàn)狀況接近電纜的運(yùn)行工況，耐壓電壓值較低，而且，耐壓時(shí)間適當(dāng)加長(zhǎng)，更能反映電纜絕緣的狀況以及發(fā)現(xiàn)絕緣中的缺陷。因此，國(guó)內(nèi)外機(jī)構(gòu)南昌市絕緣子鹽密度測(cè)試儀報(bào)價(jià)南昌市絕緣子鹽密度測(cè)試儀報(bào)價(jià)大力推薦XLPE電纜的交流耐壓試驗(yàn)，取代現(xiàn)行的直流耐壓試驗(yàn)。