膜厚測(cè)試儀它的出現(xiàn)解決了分析和測(cè)量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來(lái)的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請(qǐng)的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測(cè)量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測(cè)量。

膜厚測(cè)試儀在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測(cè)量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

     具有*功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。

儀器介紹:

WinFTMV6 是一套專門為解決含量分析和鍍層測(cè)量的軟件
WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平臺(tái)上運(yùn)行；因?yàn)橥高^(guò)簡(jiǎn)單操作及準(zhǔn)確的分析結(jié)果，所以便能夠提升生產(chǎn)力。WinFTMV6還有以下的特色…… 
特大屏幕能提供畫(huà)中畫(huà)顯示分析結(jié)果，光譜及彩色影像圖，圖像亦可以用JPG格式儲(chǔ)存。
儀器能同時(shí)間分析zui多24種不同的元素；根據(jù)可檢定的元素范圍由x ppm到，所以原子序號(hào)可由氯Cl=17）到鈾（Uranium Z=92）。
可同時(shí)測(cè)量23層不同元素鍍層的厚度。
共有1024頻道顯示清晰光譜，可隨意選用不同顏色及儲(chǔ)存光譜圖，方便日后加以分析。
因?yàn)椴煌軝z樣本的光譜可以進(jìn)行比較，所以便快捷和容易地得出兩種不同樣本含量的分別。
快速的頻譜分析以決定合金成分。
可以隨意創(chuàng)建元素分析應(yīng)用程式。
透過(guò)預(yù)先設(shè)入的14種純?cè)刈鳛橘Y料庫(kù)，儀器便可以不需用標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校亦能以基本系數(shù)（FP）進(jìn)行分析；如果輸入已知的元素更可快捷地得出含量結(jié)果。
可同時(shí)接受zui多10種不同含量的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)調(diào)校儀器，所得出的結(jié)果更精確及可信賴。
用滑鼠選擇已經(jīng)儲(chǔ)存的應(yīng)用檔案后，便可即時(shí)進(jìn)行含量分析。
測(cè)量樣品后，可透過(guò)“analysis”功能按鍵，儀器便會(huì)自動(dòng)偵測(cè)內(nèi)里的元素含量。