.產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      HDS-II雙路斷路器模擬試驗(yàn)儀將兩組相互獨(dú)立的模擬斷路器置于同一機(jī)箱，可模擬斷路器的三相及分相操作、單跳閘線(xiàn)圈或雙跳閘線(xiàn)圈斷路器、開(kāi)關(guān)自備投試驗(yàn)以及開(kāi)關(guān)拒跳/拒合等動(dòng)作行為，適用于電力系統(tǒng)、工礦企業(yè)、科研、教學(xué)院所等，作為繼電保護(hù)及自動(dòng)裝置試驗(yàn)中代替實(shí)際斷路器之用。在保障繼電保護(hù)試驗(yàn)的正確性、可靠性的同時(shí)，可大幅減少實(shí)際斷路器的動(dòng)作次數(shù)，提高整組試驗(yàn)工作效率。

    兩組模擬斷路器均直接提供A、B、C相模擬的跳/合閘線(xiàn)圈輸入端，一對(duì)斷路器位置輸出的常閉接點(diǎn)和常開(kāi)接點(diǎn)。通過(guò)面板操作選擇模擬斷路器的手動(dòng)跳閘/合閘、跳/合閘線(xiàn)圈電阻、跳/合閘時(shí)間、單相/分相動(dòng)作相預(yù)置選擇等功能，從而模擬斷路器的跳/合閘動(dòng)作。

    HDS-II雙路斷路器模擬試驗(yàn)儀提供獨(dú)立的110/220V隔離直流電壓輸出。

二.技術(shù)指標(biāo)

    1、供電電源：AC220V±10%

    2、跳合閘輸入電壓：DC 40V≤ Vin ≤ 250V

    3、跳/合閘線(xiàn)圈電阻選擇：100Ω、200Ω、400Ω

    4、合閘時(shí)間選擇：20ms~180ms，步長(zhǎng)20ms（當(dāng)設(shè)置小于20ms時(shí)取為20ms）

    5、跳閘時(shí)間選擇：30ms~90ms，步長(zhǎng)10ms（當(dāng)設(shè)置小于30 ms時(shí)取為30 ms）

    6、常開(kāi)/常閉輸出接點(diǎn)容量：DC110V/5A，AC220V/30A。

    7、提供A相，B相，C相，AB相，BC相，CA相，ABC相等七種分相預(yù)置選擇和三相操作選擇。

    8、隔離直流電壓輸出：DC 110V/220V，容量200W。

    9、工作環(huán)境：溫度-10℃～＋45℃，濕度90％不冷凝

    10、體積：380(W)×250(H)×180(D)mm

    11、重量：10Kg

三.使用方法

    步驟一：

      1、用模擬斷路器做保護(hù)整組試驗(yàn)時(shí)，將保護(hù)屏上操作回路中的三相跳閘及三相合閘的外部出口斷開(kāi)后，接入模擬斷路器各相對(duì)應(yīng)的跳/合閘輸入端子，直流操作電源的負(fù)端接入模擬斷路器的黑色公共端（-）端子。注意到跳/合閘回路的公共端是獨(dú)立分開(kāi)的。

      2、接通220V供電電源。開(kāi)機(jī)后模擬斷路器在“三相跳閘”狀態(tài)，位置指示燈綠燈亮。動(dòng)作預(yù)置為“三相”操作。

    步驟二：根據(jù)一次設(shè)備斷路器的跳/合閘時(shí)間和跳/合閘線(xiàn)圈的電流值設(shè)置和跳/合閘時(shí)間模擬斷路器參數(shù)：選擇所需模擬斷路器的跳/合閘回路電阻(100Ω、200Ω、400Ω)、跳閘時(shí)間(30 ms~90 ms)、合閘時(shí)間(20ms或~180 ms)、跳/合閘操作動(dòng)作相選擇等。

      1、跳/合閘線(xiàn)圈輸入端子相當(dāng)于實(shí)際斷路器的跳/合閘線(xiàn)圈回路，跳/合閘線(xiàn)圈電阻通過(guò)回路電阻選擇按鍵選擇，儀器通電后跳合閘回路電阻是200Ω。

      2、跳閘時(shí)間（30 ms~90 ms）步長(zhǎng)是10 ms，跳閘時(shí)間數(shù)碼盤(pán)的數(shù)字乘以10 ms即是所設(shè)置的跳閘時(shí)間；合閘時(shí)間（20ms~180 ms）步長(zhǎng)是20 ms，合閘時(shí)間數(shù)碼盤(pán)的數(shù)字乘以20 ms即是所設(shè)置的合閘時(shí)間。

      3、動(dòng)作相通過(guò)動(dòng)作相選擇按鍵選擇，儀器通電后動(dòng)作相為三相操作，對(duì)應(yīng)指示燈是三相的亮。每按動(dòng)一次將按照分相操作ABC相→A相→B相→C相→AB相→BC相→CA相→三相 循環(huán)順序選擇動(dòng)作相，并相應(yīng)指示燈點(diǎn)亮。

    步驟三：面板設(shè)置有手動(dòng)跳/合閘按鈕，模擬斷路器的手動(dòng)跳閘、合閘。操作時(shí)動(dòng)作相選擇對(duì)應(yīng)的相跳/合閘。模擬斷路器在跳閘狀態(tài)時(shí)，跳閘指示燈（綠燈）亮。此時(shí)模擬斷路器位置開(kāi)出量的常閉接點(diǎn)閉合，常開(kāi)接點(diǎn)斷開(kāi)。

模擬斷路器在合閘狀態(tài)時(shí)，合閘指示燈（紅燈）亮。此時(shí)開(kāi)出量的常開(kāi)接點(diǎn)閉合，常閉接點(diǎn)斷開(kāi)。

    步驟四：配合繼點(diǎn)電保護(hù)裝置和試驗(yàn)裝置進(jìn)行整組試驗(yàn)。當(dāng)任意一個(gè)跳/合閘回路有電流輸入時(shí)，根據(jù)預(yù)置的動(dòng)作參數(shù)模擬斷路器動(dòng)作狀態(tài)。

      動(dòng)作相選擇為三相操作時(shí)，任意一個(gè)相的跳/合閘輸入均使三相都動(dòng)作。分相操作時(shí)，各相的跳/合閘輸入導(dǎo)致所選擇的動(dòng)作相做相應(yīng)動(dòng)作，其他相狀態(tài)不變。

通過(guò)動(dòng)作相選擇按鈕，選擇非輸入的動(dòng)作相可模擬開(kāi)關(guān)拒跳、拒合試驗(yàn)。

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中，干擾信號(hào)抑制主要包括硬件和軟件兩個(gè)方面的措施。雖然硬件抑制方法有一定的效果，但是現(xiàn)場(chǎng)干擾會(huì)隨著環(huán)境、設(shè)備負(fù)載以及運(yùn)行方式的改變而改變，硬件抑制方法難以達(dá)到理想的效果。

隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)的發(fā)展，高頻局部放電檢測(cè)中的干擾抑制措施主要依靠軟件實(shí)現(xiàn)。目前常用的數(shù)字化抗干擾方法主要有：脈沖平均法、數(shù)字濾波法、信號(hào)相關(guān)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法以及小波分析法。小波變換是基于非平穩(wěn)信號(hào)的分析手段，在時(shí)域、頻域同時(shí)具有良好的局部化性質(zhì)，非常適合于不規(guī)則、瞬變信號(hào)的處理，越來(lái)越多的用于高頻局部放電檢測(cè)的干擾抑制措施中。

對(duì)于放電信號(hào)的區(qū)分，一方面可利用前述平頂山雙路斷路器模擬試驗(yàn)儀選型的抗干擾技術(shù)，將外界干擾噪聲抑制到較小水平，另一方面也可通過(guò)與不同缺陷放電特征數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行對(duì)比，即進(jìn)行放電信號(hào)的模式識(shí)別。模式識(shí)別的主要步驟包括放電信號(hào)的測(cè)量、放電信號(hào)特征提取與分類(lèi)和特征指紋庫(kù)比對(duì)三個(gè)步驟，從而判斷所測(cè)信號(hào)是否為真實(shí)的放電信號(hào)以及是何種放電。一種模式識(shí)別方法是利用相位統(tǒng)計(jì)譜圖的形狀特點(diǎn)，通過(guò)計(jì)算統(tǒng)計(jì)譜圖的偏斜度、陡峭度以及相互關(guān)聯(lián)因素等特征參數(shù)，從而對(duì)缺陷類(lèi)型進(jìn)行確認(rèn)和識(shí)別。另外一種是聚類(lèi)分析法，該方法主要將放電信號(hào)按其各自的等效頻率、等效時(shí)長(zhǎng)或其它與波形相關(guān)的特征參量進(jìn)行分類(lèi)，形成時(shí)頻域映射譜圖。時(shí)頻譜圖的特點(diǎn)是多個(gè)放電源、不同放電類(lèi)型的局部平頂山雙路斷路器模擬試驗(yàn)儀選型放電脈沖會(huì)被映射到不同聚點(diǎn)，這樣便于在局部放電相位譜圖上將真實(shí)放電和噪聲干擾區(qū)分開(kāi)來(lái)如圖5-8所示。還有一種聚類(lèi)原理是利用三相同步局部放電檢測(cè)技術(shù)，對(duì)耦合到的信號(hào)進(jìn)行幅度、相位或頻率的計(jì)算，從而進(jìn)行分類(lèi)，如圖5-9所示。
圖5-8  局部放電時(shí)頻映射譜圖^[16]   圖5-9 三相局部放電同步檢測(cè)聚類(lèi)譜圖^[28]

（二）放電源的定位