HD-55L導波雷達物位計可發(fā)出高頻率微波，沿著探桿傳播，由于遇到被測介質，介電常數(shù)突變，引起反射。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質的距離成正比。同時，導波雷達也可以測量兩種不同介質的界面，充分利用介質的介電常數(shù)的不同。但測量條件是上層介質不導電，或其介電常數(shù)比下層介質介電常數(shù)小10 倍以上。脈沖的工作方式可測小介電常數(shù)介質，并安全適用于各種金屬，非金屬容器內。對人體及環(huán)境無傷害。主要應用于煤廠、電廠、石油化工、食品及一般工業(yè)應用。

產(chǎn)品特點
1) 可以測量介電常數(shù)大于等于1.4 的任何介質；
2) 適用于測量粘稠液體，或溫度和壓力變化大的場合；
3) 適用于測量明顯的揮發(fā)性氣體介質；
4) 用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況；
5) 介電常數(shù)或比重變化的介質應用場合；
6) 輸出模擬信號4～20mA；

HD-55L導波雷達物位計的技術參數(shù)如下：
精度 液體：量程小于15m時，±5mm；量程大于15時，測量值5mm±0.05%
法蘭溫度 -30～200℃/-30～150℃，防爆型環(huán)境溫度 -30～60℃/-30～55℃，可選標準輸出 4～20mA/HART，故障診斷輸出 22mA，供電 18～35VDC/ 小于28VDC，防爆型外殼材料 鑄鋁還氧涂層，防護等級 NEMA(IP65)，防爆 ATEX II 1G 或II 1/2 D T 100℃ EEX ia II C T6...T3或EEX ia II B T6...T3，重量 2Kg(無探頭)

測量范圍說明
1. 頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的小距離。
2. 底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離。
3. 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意：
導波雷達物位計只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。