Xevo TQ-S Micro質(zhì)譜儀超乎想象的耐用性及靈敏度

創(chuàng)新性設(shè)計(jì)制造出占地面積極小的串聯(lián)四極桿儀器，可幫助您在廣泛的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)*的低含量定量分析。

• Xevo TQ-S Micro質(zhì)譜儀優(yōu)異的耐用性，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜基質(zhì)中低含量分析物的重現(xiàn)性檢測
• 采用高速采集速率，可靠定量更多分析物
• 配備Xtended Dynamic Range（XDR™）檢測器，實(shí)現(xiàn)簡單易用的方法轉(zhuǎn)換與高靈敏度
• 揭示樣品復(fù)雜性，通過RADAR™改進(jìn)方法開發(fā)

• 采用ZSpray™幾何結(jié)構(gòu)離子源，為您帶來優(yōu)異性能，有效減少中性分子，引導(dǎo)離子通過樣品錐孔進(jìn)入分析器。Xevo® TQ-S Micro采用的StepWave™離子導(dǎo)入系統(tǒng)設(shè)計(jì)旨在應(yīng)對現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室中高樣品通量和復(fù)雜基質(zhì)帶來的各種挑戰(zhàn)。

  系統(tǒng)中的中性分子和氣體載量可顯著降低，使離子能夠更有效傳輸進(jìn)入四極桿質(zhì)量分析器，進(jìn)一步提升靈敏度和穩(wěn)定性。 此外，Xevo TQ-S Micro業(yè)界*的緊湊型設(shè)計(jì)也保證了少的面積占用。

• Xccelerated Ion Transfer（XIT™）電子裝置采用SpaceWire技術(shù)，使儀器能夠以始終如一的性能進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集。新一代T-Wave™碰撞室采集速率可達(dá)每秒500個(gè)MRM通道，減少相互作用的同時(shí)有效維持了信號強(qiáng)度。提升后的MS全掃描速度可達(dá)20,000 Da/s，能夠在進(jìn)行MS全掃描和MS/MS采集（RADAR和PICS）快速切換的同時(shí)有效降低對工作周期的影響。