SurfaceSeer 飛行時間二次離子質譜儀 是Kore公司集多年研發(fā)經驗生產出*的儀器，*次將材料表面分析技術引入到可負擔得起的日常常規(guī)分析范圍中。可在短的分析時間內生成化學圖像，突破常規(guī)實驗室儀器的極限! SurfaceSeer分析儀采用功能*的二次離子質譜儀SIMS技術，結構緊湊，僅需一個標準電源SurfaceSeer 飛行時間二次離子質譜儀，可放置于任何場所使用。SurfaceSeer應用廣泛，是一臺高性價比的實驗室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對較低的維護成本和較高的樣品分析速度，保證其單個樣品分析成本明顯低于商業(yè)實驗室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負擔得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。 TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀 二次離子質譜儀 (SIMS) 是材料表面分析重要的技術之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學組成。所獲取的信息遠超過簡單的元素分析，可以識別有機組分的分子結構。 TOF-SIMS 的關鍵功能是原位無損分析表面區(qū)域 (靜態(tài)SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束（成像SIMS）建立無損表面的化學成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面，對表面作深度剖析（動態(tài)SIMS）。只需極少的樣品前處理，極短的時間內就可獲得高靈敏度的分析結果 。