系統(tǒng)型號(hào)WYPLSpec系列光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)

WYPLSpec I 常溫掃描型

WYPLSpec II 低溫掃描型

WYPLSpec M Mini 攝譜型

本系統(tǒng)可以測(cè)試半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料在激光激發(fā)下產(chǎn)生的熒光光譜。通常情況下采用紫外或進(jìn)紫外激光激發(fā)半導(dǎo)體材料（如GaN、Zno、CdTe 等）產(chǎn)生熒光；或用可見、紅外激光器激發(fā)稀土摻雜的玻璃或晶體材料產(chǎn)生的熒光，通過對(duì)其熒光光譜的測(cè)量，分析材料能帶結(jié)果等特征。

技術(shù)指標(biāo)：WYPLSpec系列光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)

● 光譜范圍：200-2500nm（可根據(jù)實(shí)際需要選擇）

● 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.2nm

● 光譜分辨率：±0.1nm

● 光譜帶寬：0.2-10nm 可調(diào)

● 光源波長(zhǎng)：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1964nm 等可選

● 可升級(jí)做透射、反射光譜測(cè)試

2016年1月21日，上海交通大學(xué)激光制造實(shí)驗(yàn)室迎十周年慶暨中德激光制造技術(shù)交流會(huì)在上海交通大學(xué)閔行校區(qū)舉行。中國(guó)*部長(zhǎng)萬鋼和德國(guó)教研部部長(zhǎng)Johanna Wanka女士出席并致辭。**司副司長(zhǎng)陳家昌，上海市科委主任壽子琪，上海交通大學(xué)校長(zhǎng)張杰、常務(wù)副校長(zhǎng)林忠欽等出席會(huì)議。上海交通大學(xué)副校長(zhǎng)黃震主持活動(dòng)。