MATRIX-F傅立葉近紅外光譜儀

實(shí)時關(guān)注生產(chǎn)過程

      傅立葉近紅外分析技術(shù)的實(shí)時在線監(jiān)控的優(yōu)勢已*。然而，傳統(tǒng)的光譜儀只能安裝在靠近監(jiān)控生產(chǎn)線的地方，這意味著將分析操作人員暴露在高溫高濕、噪音、粉塵等惡劣環(huán)境中。而且，測量點(diǎn)有時很難接近，甚至是防爆等危險區(qū)。

      通過利用光纖技術(shù)，MATRIX-F 主機(jī)可與實(shí)測點(diǎn)相距數(shù)百米，將探頭直接安裝在采樣點(diǎn)，大大簡化了工業(yè)現(xiàn)場測試的難度。此外，當(dāng)環(huán)境特別惡劣時可將主機(jī)置于帶空調(diào)的工業(yè)小屋內(nèi)，這樣可以消除溫度影響，進(jìn)一步優(yōu)化光譜儀的性能，還可以保護(hù) MATRIX-F，防止其遭受過度污垢和灰塵。

效用更大化MATRIX-F傅立葉近紅外光譜儀

      MATRIX-F 是可用一臺儀器就可對物料進(jìn)行接觸式測量和非接觸式測量的光譜儀。有不同的測量附件可供使用：

?   光纖探頭： 可根據(jù)需要配置漫反射、透反射或不同光程長度的液體透射探頭，以及流通池或其他試驗(yàn)性裝置。還可根據(jù)物料性質(zhì)選擇配置不同材質(zhì)的探頭，如不銹鋼、哈氏合金或陶瓷。

?   非接觸式測量的發(fā)射探頭：非接觸式發(fā)射探頭內(nèi)置鎢燈光源，可以直接照射樣本，并將收集的散射漫反射光通過光纖傳輸至光譜儀。通過這種方式，可以進(jìn)行遠(yuǎn)程非接觸式測量，實(shí)現(xiàn)一系列全新應(yīng)用。它可以提供多達(dá)六個流通池或探頭的光纖連接MATRIX-F emission或MATRIX-F duplex。

簡要介紹：

      Bruker 的 MATRIX-I 采用傅立葉變換近紅外技術(shù)，為滿足你的質(zhì)量保證／質(zhì)量控制需求，提供*的解決方案。
      MATRIX-I 是專為工業(yè)現(xiàn)場質(zhì)量保證／質(zhì)量控制分析而設(shè)計(jì)的堅(jiān)固的傅立葉交換近紅外光譜儀。 該系統(tǒng)采用了獲得 R&D 100 金獎的 MATRIX-F 光譜儀的設(shè)計(jì)理念。該儀器配有積分球，可以快速方便地采用漫反射技術(shù)進(jìn)行分析。樣品可以在其容器或者是倒入標(biāo)準(zhǔn)的樣品杯中直接進(jìn)行測量。此方法是分析群體樣品的理想之選，尤其是在不均勻的樣品或大顆粒樣品分析中更具顯著優(yōu)勢，例如谷物或種子。