Vanta Element手持式XRF分析儀

經(jīng)濟(jì)實(shí)用的XRF檢測

Vanta Element手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以對元素進(jìn)行分析，并可在一秒鐘短暫的時(shí)間內(nèi)對合金進(jìn)行牌號辨別和分揀。

快速辨別牌號，以及在屏幕上顯示牌號比較信息，有助于加速完成廢料分揀和金屬制造過程中的檢測環(huán)節(jié)

類似于智能手機(jī)的用戶界面，易于學(xué)習(xí)，使用方便，不僅可降低培訓(xùn)操作人員的時(shí)間，而且還簡化了分揀過程

XRF分析儀的高級特性

Vanta Element分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。

準(zhǔn)確且具有重復(fù)性的結(jié)果

Vanta分析儀的電子部件

Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率

方便的數(shù)據(jù)管理

具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中

使用奧林巴斯的科學(xué)云系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)

直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中

用于存儲(chǔ)結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡

堅(jiān)固耐用且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的手持式XRF分析儀

這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。

符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性

通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了對分析儀進(jìn)行高成本維修的需求

經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測

防磨不銹鋼面板

堅(jiān)固，較厚的（50 µm）聚酰亞胺窗口可對分析儀起到保護(hù)作用

無需使用工具即可方便更換的窗口

美國進(jìn)口伊諾斯奧林巴斯手持式XRF分析儀

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