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PSS A7000 APS-DLS PSS A7000 APS-DLS 激光粒度儀

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  • 型號(hào)PSSA7000APS-DLS
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新時(shí)間2025-04-22
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 所在地區(qū)上海市
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量43
  • 人氣值8190
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同類產(chǎn)品

公司概況(Company Profile)

 

奧法美嘉科技有限公司

 

奧法美嘉(Alpharmaca)科技有限公司于2010年在上海成立,立足于醫(yī)藥行業(yè),耕耘于納米科學(xué)材料,化工,半導(dǎo)體,環(huán)境科學(xué),汽車,過濾,涂料,墨水,油品等行業(yè),以專業(yè)的納米微米檢測技術(shù),“致力粒度分析,專注客戶體驗(yàn)”。這已經(jīng)成為奧法美嘉團(tuán)隊(duì)的信條。

借助于20多年的行業(yè)積累和技術(shù)儲(chǔ)備,奧法美嘉將世界上處于技術(shù)地位的美國PSS粒度儀公司的激光粒度儀產(chǎn)品引入到中國市場,秉承著“傳授粒度真知”“普及粒度知識(shí)”的理念,伴隨著納米知識(shí)的普及,伴隨著中國經(jīng)濟(jì)向制造業(yè)的轉(zhuǎn)型,經(jīng)過短短幾年,奧法美嘉科技有限公司作為美國PSS粒度儀公司在中國的代表,從*中心的建立運(yùn)營,到如今覆蓋全中國銷售網(wǎng)絡(luò)和售后服務(wù)網(wǎng)絡(luò),不僅用真誠的態(tài)度,而且用務(wù)實(shí)的專業(yè)知識(shí),真正踐行“專注|粒度分析”的承諾,獲得了廣大客戶的*。

Particle Solutions srl(意大利PSI均質(zhì)機(jī)公司)位于意大利海濱工業(yè)城鎮(zhèn)拉齊奧地區(qū),毗鄰歷史悠久的古城羅馬,由從事粒度相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)杰出的歐洲科學(xué)家以及工程師所組成的團(tuán)隊(duì)發(fā)起創(chuàng)立。公司團(tuán)隊(duì)擁有25年粒度檢測知識(shí)積累,15年儀器工業(yè)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),15年高壓均質(zhì)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)及應(yīng)用研究。

通過深入發(fā)掘客戶需求和應(yīng)用難點(diǎn),PSI團(tuán)隊(duì)研發(fā)出了新型高壓微射流均質(zhì)機(jī),其穩(wěn)定可控的均質(zhì)壓力及高剪切力保證了工藝可線性放大且可保證大產(chǎn)量需求,低噪音的設(shè)計(jì)理念可大大減緩傳統(tǒng)工藝中的高噪音對(duì)于操作人員的不利影響,小巧緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì)可以適應(yīng)從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到中試及大生產(chǎn)的各種工作場景。自組建以來,團(tuán)隊(duì)累積了大量醫(yī)藥,生物,半導(dǎo)體,新材料等行業(yè)的相關(guān)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。依托于醫(yī)藥行業(yè)*的GMP管理理念,PSI均質(zhì)機(jī)的現(xiàn)代化數(shù)字屏幕,符合GMP法規(guī)的數(shù)據(jù)溯源系統(tǒng)將會(huì)成為未來制造業(yè)的有力保障。

現(xiàn)奧法美嘉綜合PSS粒度儀和PSI均質(zhì)機(jī),為中國制造業(yè)提供納米技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)從生產(chǎn)研發(fā)設(shè)備到檢測儀器的整套解決方案。

 

企業(yè)文化(Company Philosophy)

 

“共享 共建 共發(fā)展”“求誠 求信 求真知”

 

現(xiàn)代企業(yè)的發(fā)展趨勢為規(guī)范化、專業(yè)化、文明化、個(gè)性化。伴隨著中國經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和騰飛,中國社會(huì)的各個(gè)層面在發(fā)生翻天覆地的變化,“中國制造”的標(biāo)簽也會(huì)逐漸演變?yōu)?ldquo;中國創(chuàng)造”。而企業(yè)的發(fā)展創(chuàng)造依靠的就是人才!人才是一切發(fā)展的基石和動(dòng)力。這反過來對(duì)“人才”從素養(yǎng),知識(shí),認(rèn)知,理念等各方面提出了新的要求和高度。

奧法美嘉一直秉承“共享 共建 共發(fā)展”的用人理念,“求誠 求信 求真知”的做事理念。在尋求高素質(zhì)人才的同時(shí),更加注重于已入職員工的培養(yǎng)。員工入職從基礎(chǔ)的醫(yī)藥行業(yè)準(zhǔn)入知識(shí)開始培訓(xùn),覆蓋知識(shí)技能培訓(xùn),商務(wù)技能培訓(xùn),職業(yè)規(guī)劃到人生規(guī)劃。公司的目標(biāo)之一是希望每個(gè)人都能成為合格的項(xiàng)目經(jīng)理,成為一名有理想有追求有素養(yǎng)的專業(yè)職場人,且能夠獨(dú)當(dāng)一面,大化實(shí)現(xiàn)自己的人生價(jià)值!

 

 

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產(chǎn)地進(jìn)口 加工定制
PSS A7000 APS-DLS全自動(dòng)激光粒度儀開創(chuàng)性的將光阻法和動(dòng)態(tài)光散射法結(jié)合在一起,集自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)稀釋、自動(dòng)檢測、數(shù)據(jù)處理以及自動(dòng)清洗等全自動(dòng)檢測功能于一身,為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析,其測量范圍可達(dá)6nm - 2500 μm。

A7000 APS-DLS搭載光阻法檢測模塊和動(dòng)態(tài)光散射模塊,將瑞利散射理論和光阻理論有機(jī)結(jié)合在一起,不僅能對(duì)較大的亞微米級(jí)別的粒子進(jìn)行顆粒
PSS A7000 APS-DLS 激光粒度儀 產(chǎn)品詳情

PSS A7000 APS-DLS 激光粒度儀 
光阻法模塊結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射模塊
自動(dòng)稀釋技術(shù),實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)大范圍檢測

基本信息

AccuSizer Counter.jpg

儀器型號(hào):PSS A7000 APS-DLS

工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS)

動(dòng)態(tài)光散射理論(Dynamic Light Scattering, DLS)

 

檢測范圍: 6nm-2500μm

     

PSS A7000 APS-DLS全自動(dòng)激光粒度儀開創(chuàng)性的將光阻法和動(dòng)態(tài)光散射法結(jié)合在一起,集自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)稀釋、自動(dòng)檢測、數(shù)據(jù)處理以及自動(dòng)清洗等全自動(dòng)檢測功能于一身,為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析,其測量范圍可達(dá)6nm - 2500 μm。

A7000 APS-DLS搭載光阻法檢測模塊和動(dòng)態(tài)光散射模塊,將瑞利散射理論和光阻理論有機(jī)結(jié)合在一起,不僅能對(duì)較大的亞微米級(jí)別的粒子進(jìn)行顆粒計(jì)數(shù),更能檢測納米級(jí)別的樣本的粒度分布。在傳統(tǒng)的經(jīng)典光散射(激光衍射,Laser Diffraction)之外,對(duì)于高分散體系多了一個(gè)選擇。

 

 

 

技術(shù)優(yōu)勢

 

 

  • 檢測范圍廣6 nm - 2500μm;

  • 高分辨率,高靈敏性,統(tǒng)計(jì)精度高;

  • 雙模塊化設(shè)計(jì),既能獨(dú)立工作,又能有機(jī)組合;

  • 集自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)檢測、數(shù)據(jù)處理以及自動(dòng)清洗等自動(dòng)化功能與一身;

 

高分辨率

分辨率,在這里指的是分辨同一體系內(nèi)不同粒徑大小的能力。得益于超前的設(shè)計(jì)理念和軟硬件組合,SPOS技術(shù)除了能夠呈現(xiàn)*不同于經(jīng)典光散射的顆粒計(jì)數(shù)分布外,相對(duì)于經(jīng)典的電阻法和光阻法,具有更高的分辨率和精準(zhǔn)性。它不會(huì)錯(cuò)過任何顆粒細(xì)節(jié),而這些細(xì)節(jié)往往是決定產(chǎn)品好壞的標(biāo)準(zhǔn)。

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圖1高分辨率展示

 

     

如圖1所示,同一個(gè)樣本中混合0.7μm,0.8μm,1.3μm,2μm,5μm,10μm,15μm,20μm,50μm,100μm,200μm 11種標(biāo)準(zhǔn)PSL粒子,SPOS技術(shù)可以很容易將每種不同大小的標(biāo)粒區(qū)分清楚。

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圖2 SPOS VS Laser diffraction

  圖2展示了同一個(gè)樣本在SPOS技術(shù)和激光衍射法(Laser diffraction,LD)粒度儀中測得的結(jié)果。樣本使用的是過400目篩(37μm)的樣本。SPOS技術(shù)(綠色線)顯示在35μm以上是沒有粒子的,這和實(shí)際情況相符。但是使用LD檢測得到的僅僅是“相似”的分布,但是在100μm本來沒有顆粒的情況下卻給出了還有大量大顆粒的假性結(jié)果。

 

高靈敏度

APS-DLS系統(tǒng)提供了超高的靈敏度,依托于SPOS技術(shù),哪怕只有一顆顆粒,也不會(huì)放過,靈敏度可以達(dá)到10PPT等級(jí)。高靈敏度確保了樣品檢測的細(xì)節(jié)不被忽視,滿足了制造業(yè)升級(jí)過程中,除了粒徑檢測的需求外,還要對(duì)或大或小的游離顆粒的控制,無論是半導(dǎo)體行業(yè)尾端大顆粒對(duì)良率的影響,還是鋰電行業(yè)正負(fù)極材料小顆粒對(duì)安全性的危害。APS-DLS系統(tǒng)都可以準(zhǔn)確識(shí)別,為制造業(yè)保駕護(hù)航。

 

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圖3 高靈敏度展示

圖3展示了一個(gè)樣本檢測前,僅加入10μL的50μm標(biāo)準(zhǔn)乳膠粒子,混合好后進(jìn)行檢測,如圖所示儀器依舊很準(zhǔn)確的檢測出來,并且告知加入的50μm標(biāo)粒僅有33顆,粒徑是50.127μm。

 

高效的粒度分析

APS-DLS系統(tǒng)的高靈敏度、高分辨率不僅帶來了更為接近真實(shí)情況的粒徑分布,同時(shí)檢測快速,節(jié)省客戶時(shí)間,僅需幾分鐘,既可獲得檢測結(jié)果。同時(shí)儀器支持自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)清洗、自動(dòng)稀釋等功能,將大大提高實(shí)驗(yàn)室工作效率,幫助他們?yōu)榘雽?dǎo)體,乳劑,粉體客戶更快地獲得重要結(jié)果。

APS-DLS系統(tǒng)同樣支持在線系統(tǒng),集成在產(chǎn)線中的關(guān)鍵監(jiān)控點(diǎn),實(shí)時(shí)檢測粒度結(jié)果,發(fā)現(xiàn)異常,及時(shí)處理,降低工作成本,簡化工作流程。

 

真實(shí)的粒徑分布

粒粒皆清楚,不丟失任何細(xì)節(jié)。

不同行業(yè)對(duì)粒度檢測的需求其實(shí)一直各有側(cè)重點(diǎn),為了獲得更真實(shí)的粒徑結(jié)果,往往需要通過電鏡等儀器進(jìn)行分析,但存在著統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)不足以及不利于規(guī)?;瘷z測的弊端。為了滿足大量即時(shí)的檢測需求,經(jīng)常以犧牲精確性和分辨率來換取檢測速度和易用,但僅能獲得平均粒徑以及分布的檢測已無法滿足現(xiàn)在行業(yè)的發(fā)展。

APS-DLS系統(tǒng)對(duì)于細(xì)節(jié)的把控,可以確保檢測結(jié)果接近真實(shí)的情況,幫助質(zhì)量形成統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)方案,監(jiān)控批間差異,穩(wěn)定產(chǎn)品質(zhì)量。

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圖4 較均勻的樣品SPOS VS 電鏡下掃描結(jié)果

 

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圖5 不均勻的樣品SPOS VS 電鏡下掃描結(jié)果

圖4和圖5展示了一個(gè)均勻的樣本和一個(gè)不均勻的樣品在SPOS技術(shù)及電鏡下的檢測結(jié)果。均勻的樣本在電鏡下顆粒之間大小較為相似,相應(yīng)的SPOS技術(shù)檢測可見譜圖較窄。而不均勻的樣本,電鏡下可以看到大大小小的顆粒,相應(yīng)SPOS技術(shù)檢測的結(jié)果出現(xiàn)高高低低的峰,與電鏡結(jié)果可直接對(duì)應(yīng)。

工作原理

目錄結(jié)構(gòu):

1.單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介 

2.傳統(tǒng)光阻法和光散法測量粒度的原理

3.PSS的SPOS技術(shù)介紹

4.自動(dòng)稀釋原理介紹

1、單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介

      單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing, SPOS)是一種用于測量溶劑中懸浮粒子的大小和數(shù)量濃度的激光粒度檢測通用技術(shù)。在SPOS技術(shù)中液體懸浮液中的粒子流經(jīng)傳感器的樣品池時(shí),在激光光源的照射下,被阻擋或者被散射的光會(huì)轉(zhuǎn)變成脈沖電壓信號(hào),脈沖信號(hào)的大小是由粒子的截面面積和物理判定規(guī)則即光散射或者光阻共同決定的。光阻也被稱為不透光度或者光消減。而粒子間的相互阻擋和散射是和粒子的大小和濃度是有關(guān)系的,利用脈沖幅度分析器和校準(zhǔn)曲線便可以得到懸浮粒子的數(shù)量濃度和粒度大小分布。傳統(tǒng)光阻法可以測得1.5μm以上的粒子和并具有較高的分辨率。

      單顆粒傳感技術(shù)(SPOS)*了常見粒度儀檢測技術(shù)在檢測粒徑分布中的重要不足—粒子數(shù)量的統(tǒng)計(jì)。自AccuSizer 780系列儀器誕生,以往以犧牲精確性和分辨率來換取檢測速度和易用的歷史一去不復(fù)返!

粒粒皆清楚,不丟失任何細(xì)節(jié)。

 

2.傳統(tǒng)光阻法與光散射法原理

圖片6.png

Figure 1 光阻法檢測示意圖

      圖1為光阻法檢測原理圖,待測液體流過橫截面很小的流通池,流通池兩側(cè)裝有光學(xué)玻璃,激光器的光束通過透鏡組準(zhǔn)直,光束穿過流通池并被光電探測器所接收。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器接收到的光信號(hào)穩(wěn)定不變,輸出的電壓信號(hào)也恒定,將此恒定信號(hào)作為基準(zhǔn)電壓;若液體中有顆粒物質(zhì),顆粒通過流通池傳感區(qū)域,將會(huì)遮擋激光,光電探測器接收到的光信號(hào)減小,產(chǎn)生一個(gè)負(fù)的脈沖電信號(hào),如下圖2所示。

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Figure 2 光電二極管信號(hào)

      脈沖信號(hào)幅度與基準(zhǔn)電壓信號(hào)有如下關(guān)系:

                       圖片11.png                (1)                        

      式(1)中:E為顆粒遮擋引起的脈沖幅度;a為顆粒的有效遮擋面積(等效為球形);A為光電探測器的有效面積;E0是沒有顆粒時(shí)的光電探測器所產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓。因此,脈沖信號(hào)幅度對(duì)應(yīng)顆粒的大小,脈沖信號(hào)個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)顆粒的數(shù)量。

 

圖片8.png

Figure 3 光散射法檢測原理圖

 

      圖3為光散射法檢測原理圖,待測液體流過流通池,流通池兩側(cè)裝有光學(xué)玻璃,激光器的光束通過透鏡組準(zhǔn)直,光束穿過流通池,照射在光陷進(jìn)上。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器就收不到光信號(hào),若液體中有顆粒,顆粒通過流通池,與激光光束發(fā)生散射現(xiàn)象。某一個(gè)(或幾個(gè))角度下的散射光通過透鏡收集匯聚到光電探測器上,產(chǎn)生正的電信號(hào)脈沖,脈沖信號(hào)的幅度和散射光強(qiáng)成正比。根據(jù)信號(hào)的幅度和個(gè)數(shù)可以對(duì)液體中的微小顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)檢測。

      當(dāng)光束照射含有懸浮微粒的液體時(shí)光能減弱。根據(jù)文獻(xiàn), 此時(shí)懸浮液中微粒會(huì)對(duì)光產(chǎn)生散射和吸收等作用,因?yàn)檫@些作用導(dǎo)致的光強(qiáng)減弱與微粒的濃度存在線性關(guān)系。在文獻(xiàn)中引用了如下公式,來描述當(dāng)微粒濃度較小時(shí),透射光強(qiáng)與入射光強(qiáng)之間的關(guān)系:

                                    1577260612(1).jpg

      它對(duì)應(yīng)于因?yàn)樯⑸浜臀斩鴮?dǎo)致光的衰減總量。有米氏散射的理論,隨著微粒的增大,光*量集中于前向0度角附近,圖1中我們也可以注意到這一點(diǎn)。(4)式中沒有考慮到這樣的事實(shí):在光阻法檢測中,前向0角度附近的散射光仍然能夠被探測器接收,因此必須考慮對(duì)散射系數(shù)進(jìn)行修正。實(shí)際中(4)式變?yōu)椋?/p>

           1577260670(1).jpg                   

3.PSS技術(shù)的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介

      經(jīng)過光感區(qū)域的粒子由于大小不同,光強(qiáng)隨之產(chǎn)生相應(yīng)的變化。將探測器收集的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào),不同的電壓信號(hào)對(duì)應(yīng)不同的粒徑大小,從而得到微粒的粒徑。美國PSS粒度儀公司(Particle Sizing Systems)的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS)是在傳統(tǒng)光阻法(LE)大顆粒光學(xué)傳感技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了激光散射模塊(LS)。在兩個(gè)模塊(LE+LS)同時(shí)運(yùn)行的情況下,檢測下限由原來純光阻的1.5μm下探至0.5μm。使得其在大顆粒檢測領(lǐng)域的應(yīng)用更加的廣泛。

      SPOS技術(shù)對(duì)粒子的信號(hào)響應(yīng)方式是信號(hào)與特定粒子相對(duì)應(yīng)的。AccuSizer 780系列儀器中的傳感器通過兩種不同性質(zhì)的物理作用:光消減(light extinction, LE)與光散射(light scattering, LS)對(duì)通過傳感器的粒子進(jìn)行測定。光消減技術(shù)檢測通過流動(dòng)池的光強(qiáng)變化,擁有檢測粒子的粒徑范圍廣且與粒子組份無關(guān)等優(yōu)點(diǎn)。然而,它的靈敏度有限。另一方面,光散射技術(shù)具有相對(duì)窄的動(dòng)態(tài)粒徑范圍 (取決于檢測器/放大器的飽和值),但能檢測到小粒徑的粒子,使用大功率激光光源還能檢測到粒徑更小的粒子。通過合并光消減和光散射響應(yīng)信號(hào),傳感器可同時(shí)擁有這兩種方法的優(yōu)點(diǎn),因而在不損失單粒子分辨率巨大優(yōu)勢的前提下?lián)碛邢鄬?duì)較廣的動(dòng)態(tài)粒徑范圍。

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圖4 PSS的SPOS原理圖

 

4. 自動(dòng)稀釋原理介紹

      單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing, SPOS)雖然具有*的量化粒度分布的優(yōu)點(diǎn),但是相應(yīng)的粒子間的重合效應(yīng)會(huì)造成檢測結(jié)果不準(zhǔn)。PSS粒度儀使用的自動(dòng)稀釋機(jī)制,可以將樣品稀釋到目標(biāo)濃度,然后再采集數(shù)據(jù),保證粒度可以以“single”狀態(tài)通過傳感器,從而實(shí)現(xiàn)高濃度樣本的檢測。

      系統(tǒng)可以根據(jù)稀釋倍數(shù)自動(dòng)計(jì)算給出原樣品顆粒濃度,解決了高濃度樣品的檢測難題,適合測試其他技術(shù)手段無法檢測高濃度樣本,更加適合測量樣品量稀少且珍貴的樣品。

圖片10.png

 

圖5 自動(dòng)稀釋原理圖

分析方法及原理

動(dòng)態(tài)光散射法+光阻法

激光光源

15mW固態(tài)光源(可選35mW、50mW)

檢測器

搭配多檢測器,PMT、APD、LE

檢測形式

連續(xù)檢測

測量范圍

(傳感器可選)

6nm - 2500μm

檢測角

10-175°

準(zhǔn)確性

±1%

重復(fù)性

±1%

樣品類型

水相/有機(jī)相

通道數(shù)量

512

流速范圍

60-180ml/min

進(jìn)樣量

5μl-5ml

取樣方式

手動(dòng)/自動(dòng)

自動(dòng)稀釋

標(biāo)配二步稀釋

自動(dòng)清洗

支持

循環(huán)系統(tǒng)

一體化設(shè)計(jì)

品濃度限值

1011個(gè)/ml

Chamber

30ml

閥門驅(qū)動(dòng)方式

標(biāo)配:電動(dòng)

選配:氣動(dòng)

稀釋系統(tǒng)

標(biāo)配:超純水

選配:有機(jī)溶劑

攪拌器

標(biāo)配:磁力攪拌(轉(zhuǎn)速可控)

選配:機(jī)械攪拌

Windows系統(tǒng)

Windows 7以上專業(yè)版操作軟件

分析操作軟

標(biāo)配:Windows兼容 研發(fā)軟件

電源選項(xiàng)

220 – 240 VAC,50Hz 100 – 120 VAC,60Hz

乳劑

      兩種互不相溶的液體經(jīng)乳化制成的非均勻分散體系,通常是水和油的混合物。乳劑有兩種類型,一種是水分散在油中,另一種是油分散在水中。加工過程中它們均需均質(zhì)化處理到所需的粒徑大小以期獲得穩(wěn)定體系,延長保質(zhì)期。乳劑穩(wěn)定性與顆粒粒徑分布密切相關(guān),僅關(guān)注粒徑大小并不代表一定穩(wěn)定,乳劑中存在極為少量的微米級(jí)別大顆粒,而這些顆粒的存在不僅會(huì)導(dǎo)致樣品穩(wěn)定性變差,注射使用更會(huì)對(duì)患者造成嚴(yán)重不良反應(yīng)。

化學(xué)機(jī)械拋光液

(CMP SLURRY)

化學(xué)機(jī)械拋光是半導(dǎo)體制造加工過程中的重要步驟?;瘜W(xué)機(jī)械拋光液是由腐蝕性的化學(xué)組分和磨料(通常是氧化鋁、二氧化硅或氧化鈰)兩部分組成。拋光過程很大程度上取決于晶片表面構(gòu)型。晶片的加工誤差通常以埃計(jì),對(duì)晶片質(zhì)量至關(guān)重要。拋光液粒度越均勻、不聚集成膠則越有利于化學(xué)機(jī)械拋光加工過程的順利進(jìn)行。

墨水

隨著打印機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展,打印機(jī)用的墨水變得越來越重要。噴墨打印機(jī)墨水的粒度應(yīng)當(dāng)控制在一定的尺度以下,且分布均勻,大的顆粒易于堵塞打印頭并影響打印質(zhì)量。墨水是通過研磨方法制得的,可用粒度檢測分析儀器設(shè)備監(jiān)測其研磨加工過程,以保證墨水的顆粒粒度分布均勻,避免產(chǎn)生聚集的大顆粒。

粉材

對(duì)于氧化鋁、硅微粉、鋰電池正負(fù)極等粉體來說,粒徑需要控制在合適的范圍內(nèi)才能確保粉體的質(zhì)量,無論是過大還是過小都會(huì)影響材料本身的質(zhì)量。以氧化鋁為例,氧化鋁顆粒過小則在生產(chǎn)過程中容易起塵,造成大量的損耗,被認(rèn)為是冶金級(jí)“垃圾”如果顆粒過大,則具有形成沉淀的傾向,影響氧化鋁在電解質(zhì)中的溶劑速率。

 

 

 

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