J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)能夠同時測定主要元素、微量元素以及同位素，快速繪制元素圖，J200采用了一種自動調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計考慮到了樣品表面的形態(tài)變化。這一特性使得J200能夠保持精確的激光聚焦，不論高度差異如何，在所有采樣點(diǎn)上提供相同的激光通量，并在所有采樣點(diǎn)上實現(xiàn)一致的激光剝蝕，Dr. Rick Russo為實驗室科學(xué)家，他及其團(tuán)隊在激光剝蝕領(lǐng)域具有很高的*聲望。其本人從事激光與材料相互作用機(jī)理及相關(guān)應(yīng)用研究達(dá)30余年，對于激光、光譜儀器、成像系統(tǒng)、計算及電子器件具有豐富的經(jīng)驗。

激光取樣模式優(yōu)勢：
Axiom LA有一個大窗口，用以顯示清晰、詳細(xì)的樣品圖像。分析人員可以在樣本圖像上編寫任意的激光采樣模式的程序，包括光柵線、曲線、隨機(jī)點(diǎn)、任意大小的網(wǎng)格和預(yù)先編程的圖案。即使是具有挑戰(zhàn)性(或復(fù)雜的)形狀的采樣區(qū)域也可以用圖案生成工具突出顯示，并且可以精確地分析元素或同位素含量。

微粒沖洗性能：
根據(jù)測量目標(biāo)(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化，指標(biāo)包括：沖洗時間、顆?；旌?、樣品室內(nèi)的流動特性。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)ASI公司是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術(shù)的高科技公司，研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員，激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)可與市面上的普通四極桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用，J200的Flex樣品室的設(shè)計能夠容納直徑為4英寸的樣品，它使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件（層流和紊流）和微粒沖洗時間。此外，F(xiàn)lex樣品室的設(shè)計是為等離子體光提供一個合適的視角，從而保證在激光剝蝕過程中進(jìn)行靈敏的LIBS檢測。