iCAP? 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀
描述
電感耦合等離子體 (ICP) 光學(xué)發(fā)射光譜法 (OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進(jìn)行分析和定量的*的*技術(shù)。
進(jìn)樣系統(tǒng):
該儀器出廠時已設(shè)定分析就緒的進(jìn)樣參數(shù),所以用戶不再需要優(yōu)化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。
- 一個 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動泵,帶有*的排液監(jiān)測傳感器,提供順暢、低噪音的信號和安全的操作
- 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
- 組合式進(jìn)樣系統(tǒng)易于重組和維護(hù)
- 增強基質(zhì)耐受 (EMT)炬管設(shè)計改善了高基質(zhì)樣品的操作
- 光學(xué)排液監(jiān)測傳感器可監(jiān)測來自霧化室的排液情況,在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰,從而節(jié)約樣品、氣體和電力
- 提供一系列的 CETAC 自動進(jìn)樣器,從而能夠優(yōu)化 iCAP 7200 ICP-OES 進(jìn)行自動化、無人照看的分析
等離子體和射頻發(fā)生器:
- 雙向(垂直和水平)等離子體觀測
光學(xué)系統(tǒng):
- 光學(xué)系統(tǒng)的低吹掃氣體流量有助于減少運行費用
- 高光傳輸效率的光學(xué)設(shè)計可提供優(yōu)異的靈敏度
- 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準(zhǔn)確度
- 具有熱切斷設(shè)計的恒溫控制多色器增強了*穩(wěn)定性,可在不再進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下延長分析運行
檢測器:
- 電荷注入裝置 (CID) 檢測器: CID-86
- 可以在 175 到 847 nm 范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長
- 具備抗鄰近像素暈光效應(yīng)的功能,減少了復(fù)雜樣品基質(zhì)引起的假陽性結(jié)果
- 非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背比和檢測限
軟件:
- 直觀的 Qtegra? Intelligent Scientific Data Solution? 平臺軟件將預(yù)加載方法模板作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置,能夠進(jìn)行"開箱即用"的操作




































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