日立臺式電鏡產(chǎn)品介紹:
日立TM4000掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
TM4000Plus是在TM4000基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實(shí)時進(jìn)行顯示,獲得多的樣品信息??蛇x配附件豐富,擁有諸多附加功能。

主要參數(shù):
1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV(均四檔可調(diào))、EDX
2. 放大倍率:10×~100000×
3. 觀察模式:導(dǎo)體(TM4000Plus)、標(biāo)準(zhǔn)模式,消除電荷模式
4. 探測器:4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器 (TM4000Plus)
服務(wù)范圍:
測試項(xiàng)目 Test Item | 服務(wù)范圍 Scope |
微觀形貌觀察 | 根據(jù)客戶要求對樣品區(qū)域、形貌進(jìn)行觀察與分析,放大倍數(shù)<10,000倍;不能測試液體及易揮發(fā)物質(zhì) |
元素分析 | 測量范圍/精度: Li3~Cf98 適用范圍:高聚物、金屬、無機(jī)物、粉末等; 定性半定量; 不能測試液體及易揮發(fā)物質(zhì) |
斷面分析 | 1. 針對斷裂樣品進(jìn)行,使用光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡進(jìn)行觀察 2. 主要判斷斷裂方式(韌性、脆性)、裂紋源頭、延展方向等 3. 報(bào)告中包含斷口圖片和分析結(jié)果,但無法判斷斷裂原因 |
異物失效分析 | 金屬腐蝕產(chǎn)物分析 金屬鍍層析出物定性分析 介質(zhì)污染異物類分析 |
鍍層厚度及成分定性分析 | 針對部分真空電鍍至0.8μm以下鍍層厚度,進(jìn)行SEM厚度測試,分辨率可達(dá)0.01μm;及多層鍍層線掃描成分分析 |
應(yīng)用領(lǐng)域:
生命科學(xué)
材料科學(xué)
化學(xué)
電子制造
食品工業(yè)



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