描述
電感耦合等離子體 (ICP) 光學(xué)發(fā)射光譜法 (OES) 是對(duì)液體和固體樣品中的痕量元素進(jìn)行分析和定量的*的*技術(shù)。
進(jìn)樣系統(tǒng):
該儀器出廠時(shí)已設(shè)定分析就緒的進(jìn)樣參數(shù),所以用戶不再需要優(yōu)化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。
一個(gè) 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動(dòng)泵,帶有*的排液監(jiān)測(cè)傳感器,提供順暢、低噪音的信號(hào)和安全的操作
插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
組合式進(jìn)樣系統(tǒng)易于重組和維護(hù)
增強(qiáng)基質(zhì)耐受 (EMT)炬管設(shè)計(jì)改善了高基質(zhì)樣品的操作
光學(xué)排液監(jiān)測(cè)傳感器可監(jiān)測(cè)來自霧化室的排液情況,在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動(dòng)熄滅等離子體炬焰,從而節(jié)約樣品、氣體和電力
提供一系列的 CETAC 自動(dòng)進(jìn)樣器,從而能夠優(yōu)化 iCAP 7200 ICP-OES 進(jìn)行自動(dòng)化、無人照看的分析
等離子體和射頻發(fā)生器:
雙向(垂直和水平)等離子體觀測(cè)
光學(xué)系統(tǒng):
光學(xué)系統(tǒng)的低吹掃氣體流量有助于減少運(yùn)行費(fèi)用
高光傳輸效率的光學(xué)設(shè)計(jì)可提供優(yōu)異的靈敏度
高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測(cè)準(zhǔn)確度
具有熱切斷設(shè)計(jì)的恒溫控制多色器增強(qiáng)了*穩(wěn)定性,可在不再進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下延長(zhǎng)分析運(yùn)行
檢測(cè)器:
電荷注入裝置 (CID) 檢測(cè)器: CID-86
可以在 175 到 847 nm 范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長(zhǎng)
具備抗鄰近像素暈光效應(yīng)的功能,減少了復(fù)雜樣品基質(zhì)引起的假陽(yáng)性結(jié)果
非破壞性讀取和隨機(jī)存取的集成改善了信背比和檢測(cè)限
軟件:
直觀的 Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ 平臺(tái)軟件將預(yù)加載方法模板作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置,能夠進(jìn)行"開箱即用"的操作




































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