技術細節(jié)：

研究級光譜性能

SENTERRA II具備*的檢測敏感度和高譜圖分辨率，同時不犧牲共聚焦能力。

大多數(shù)應用只需要標準光柵。該儀器可在一次掃描可覆蓋整個拉曼光譜，分辨率達到4cm-1。對于諸如同位素分裂或多晶態(tài)等要求苛刻的研究，可通過點擊鼠標輕松設置高分辨率光柵。

直觀方便的操作

對于常規(guī)用戶和專家而言，SENTERRA II都是一種操作使用非常方便和直觀的系統(tǒng)。它是一種軟硬件緊密結合的儀器。軟件可引導操作人員完成顯微拉曼分析的所有步驟，而所有相關硬件調(diào)整均可自動完成。

*的波數(shù)精度和準確性

為取得精確結果，必須對波長軸進行準確校準。布魯克*特色的SureCALTM技術可確保在任何時間自動性校準波長軸，無需用戶任何操作。

保證可靠性

使用SENTERRA II，您可以放心的是，測試結果始終是可靠的。歸功于儀器全自動驗證程序，儀器自動完成性能驗證，同時不浪費寶貴的分析時間。在實際分析過程中，波長軸可性自動校準，從而保證光譜精度和準確性。

方便的拉曼成像

SENTERRA II提供*的共聚焦拉曼成像和面掃描功能，無需進行費時費力的參數(shù)調(diào)整即可直接使用。高效數(shù)據(jù)采集結合高精度面掃描臺可實現(xiàn)亞微米空間分辨率和快速拉曼成像。即便是高精度拉曼成像也可在短短數(shù)秒之內(nèi)測定。

克服熒光

選擇合適的激光激發(fā)，獲得有意義的拉曼譜圖，而不受熒光背景干擾，是非常重要的。SENTERRA II和FT-Raman技術結合，增加第四個近紅外激光1064nm，可以將不愿看到的熒光減小到*。顯微FT-Raman也可以通過RamanScopeIII實現(xiàn)。

應用：

SENTERRA II能夠測量拉曼成像，并將所獲取的空間分辨分子結構信息與樣品的高質(zhì)量顯微圖像結合在一起。用戶無需制備和接觸樣品即可完成分析，并可獲取空間分辨率精細至一微米以下的樣品表面化學圖成像。此外，透光樣品的深度剖面分析功能支持對樣品進行非破壞性三維檢測。SENTERRA II應用廣泛，適合用于有機和無機材料的檢測、辨別和識別。

藥物：

      · 區(qū)分同物質(zhì)的不同晶型

      · 藥片中的API和賦形劑分布可視化

      · 失效分析：顆粒物和雜質(zhì)鑒定

聚合物：

      · 純聚合物和混合聚合物識別

      · 多層膜分析

      · 聚合物表征：結晶度、密度、形態(tài)/判定單體含量、充填劑和添加劑

      · 失效分析：雜質(zhì)識別

涂層和表面：

      · 研究涂層和表面構成和均勻性

材料學：

      · 區(qū)分非晶硅和微晶硅

      · 新型2D材料和碳納米管表征

法庭科學：

      · 鑒別取自犯罪現(xiàn)場的痕跡物證，譬如纖維、顆粒物、漆片等

      · 藝術品真品鑒別

      · 偽造文件、藥物和錢幣鑒別

      · 違禁藥物分析

藝術和文化遺產(chǎn)：

      · 藝術作品材料識別

      · 真假古董鑒別

      · 藝術品保護、降質(zhì)和老化研究

生命科學：

      · 細胞和組織分子結構研究