產(chǎn)品描述

工作原理：

粒度分布：動態(tài)光散射儀（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

檢測范圍：

粒徑范圍：0.3nm-10.0μm

ZETA電位： +/- 500mV

  Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而 來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用 多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒 徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了 高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有磚利技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻 分散體系的分析具有*優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以 使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大 節(jié)省檢測成本。

技術(shù)優(yōu)勢

1、PMT高靈敏度檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬次；

4、鈀電極；

5、精確度高，接近樣品真實值；

6、復(fù)合型算法： 高斯（Gaussion）單峰算法與磚利的Nicomp多峰算法自由切換 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

7、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

9、符合USP,CP等個多藥典要求；

10、無需校準；

11、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與磚利的Nicomp多峰算法自由切換

12、模塊化設(shè)計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊磚利（選配）；

（2）搭配多角度檢測器（選配）；

（3）自動進樣系統(tǒng)（選配）；