
1、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。
2、對于夏比V型缺口沖擊試驗,由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口要求R0.25±0.25),故在整個試驗過程中,試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題,如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格,那么其試驗的結(jié)果是不可信的,特別是R0.25mm缺口的微小變化(其公差帶只有0.25mm)都會引起試驗結(jié)果的陡跳,尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格,對缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。

| 放大倍數(shù) | 50× |
| 物鏡放大倍率 | 2.5× |
| 投影物鏡放大倍率 | 20× |
| 投影屏直徑 | Φ200 mm |
| 工作臺尺寸 | 方工作臺: (110×125)mm 圓工作臺: Φ90 mm 工作臺玻璃直徑: Φ70 mm |
| 工作臺行程 | 縱向: ±10 mm 橫向: ±10 mm 升降: ±12 mm(無刻度) |
| 工作臺轉(zhuǎn)動范圍 | 0°-360°(無刻度) |
| 光源(鹵鎢燈) | 12V 100W |
| 電源 | 220V 150W |
| 外形尺寸 | 510×220×600mm |
| 重量 | 約 20kg |
突出特點:本設(shè)備屏幕上標(biāo)有明顯刻度,并標(biāo)有公差帶、角度值和深度線,可精確讀出缺口誤差,滿足美標(biāo)、歐標(biāo)ASTM E23,EN 10045,ISO148,ISO 83 等一些相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。也可根據(jù)客戶的要求定做, 滿足檢測 3mm 或 5mm 沖擊試樣缺口的需要。































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