TS-X 輪廓測(cè)試儀,X軸承載工件,Z軸進(jìn)行輪廓掃描,數(shù)據(jù)采集和控制都基于*的數(shù)字技術(shù)。機(jī)械基礎(chǔ)是很高質(zhì)量的花崗巖使用精的基本元素不需要我們的系統(tǒng)的后續(xù)和復(fù)雜的錯(cuò)誤補(bǔ)償。穩(wěn)定性好,使用壽命長(zhǎng)。
德國(guó)T&S TS-X 輪廓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
TS輪廓測(cè)量?jī)x
GS / GM-X輪廓測(cè)量?jī)x
TS-X輪廓測(cè)量?jī)x
CV120輪廓測(cè)量?jī)x
CV300輪廓測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品線:
對(duì)中夾具 UZ系列
外圓對(duì)中夾具 AZ系列
對(duì)中水平放置臺(tái) KZT系列
對(duì)中夾具 ZS系列
綜合支架 WSE系列
角度調(diào)整卡 WSF系列
棱柱支撐 WP/WPS系列
德國(guó)T&S TS-X輪廓測(cè)試儀:
.X軸和z軸無(wú)摩擦的空氣軸承
.測(cè)量范圍(280 x 350 m)
.混合陶瓷測(cè)點(diǎn)
.X方向的靜態(tài)探測(cè)和測(cè)量數(shù)據(jù)記錄
.粗糙度檢測(cè)模塊是標(biāo)準(zhǔn)供貨的一部分
.承載能力25 kg(可選很大50kg
.Y軸調(diào)整臺(tái)可手動(dòng)和馬達(dá)自動(dòng)調(diào)節(jié)
.非接觸式增強(qiáng)型線性光柵尺
.測(cè)量系統(tǒng)分辨率1納米
·性?xún)r(jià)比高
.誤差很限:±(0.85 +L / 100) um[L以毫米為單位的測(cè)量路徑](不改變掃描方向)
.在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)都可以進(jìn)行輪廓和粗糙度測(cè)量
.故障限制: ± (0.9 + L/100) μm [L = 測(cè)量路徑 (毫米) (共質(zhì) TS)
.故障限制: ± (0.85 + L/100) μm [L = 測(cè)量路徑 (毫米) (Contuatic TS-X)
.軟件要求: ConturoMatic: W10/ 64Bit可選W7 / 64Bit
德國(guó)T&S TS-X粗糙度測(cè)量:
.表面粗糙度的測(cè)量
(參考表面測(cè)量的機(jī)械原理)
.測(cè)量粗糙度范圍:280 x350毫米
·有效分辨率:1 nm
·測(cè)量速度:0.1-0.5毫米/秒
.測(cè)量力:7.5 mN(可變調(diào)節(jié))
.測(cè)量點(diǎn)距離:約0.5微米
·適合粗糙度:Rz> 0.5um, Ra> 0.05um
·精度:5%

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