E5501B 相位噪聲測量解決方案,50 kHz ~ 1.6 GHz
主要特性與技術(shù)指標
- 50 kHz ~ 1.6 GHz
- 能夠進行廣泛的器件測試
- 直接測量 AM 噪聲
- 測量高達 100 MHz 的偏置
- 業(yè)界的靈敏度
- Agilent 3048 系統(tǒng)的步進升級路徑
描述
E5501B 相位噪聲測量解決方案縮短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶體振蕩器以及合成器的 ATE 測試時間,并地提升了研發(fā)臺式應(yīng)用的功能。 Agilent E5501B 相位噪聲測量解決方案旨在簡化 1 端口 VCO、DRO、晶體振蕩器以及合成器的相位噪聲測量,并地提升研發(fā)臺式應(yīng)用的功能。 此外,憑借 0.01 Hz ~ 100 MHz 的標準偏置范圍, Agilent E5501B 可提供全面的功能、靈活性和通用性,滿足研發(fā)工程師不斷變化和日益苛刻的需求。 Agilent E5501B 系列解決方案以安捷倫三十余年的低相位噪聲、射頻設(shè)計和測量經(jīng)驗為基礎(chǔ),繼續(xù)提供出色的測量完整性、可重復(fù)性和精度。
E5501B相位噪聲測量解決方案,簡化了,一個端口VOC,處,晶體振蕩器和合成器的ATE測試時間,并限度地提高R&D臺式應(yīng)用能力。安捷倫E5501B相位噪聲測量解決方案的設(shè)計,以簡化的一個端口的 VCO,設(shè)立處,晶體振蕩器和合成器的相位噪聲測量,R&D臺式應(yīng)用的能力。此外,一個標準的偏移范圍從0.01 Hz到100 MHz的能力,安捷倫E5501B提供的能力,靈活性和通用性,以滿足不斷變化的,并要求放置在研發(fā)工程師的需求。 30年的安捷倫科技的低相位噪聲,射頻設(shè)計和測量經(jīng)驗的基礎(chǔ)上,安捷倫E5501B解決方案的繼續(xù)提供出色的測量完整性,重復(fù)性和準確性。





































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