品名: X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9400
型號: SFT9400系列
概要: SFT9000系列里機型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗裝置(半導體檢驗裝置十比例計數(shù)管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜厚測量儀器。而且“SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。
特長
搭載雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)秀的半導體檢測器（起作用液化氮）和計數(shù)率優(yōu)秀的比例計數(shù)管，能夠根據(jù)運用需要對應使用。特點是半導體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：
1.能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。
2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。
3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。
4.薄膜FP軟件：對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領(lǐng)域。
5.適用測定極微小部分,15μmΦ的準直管為標準裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。
6.搭載75W高性能X射線管。
7.容易對微小領(lǐng)域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統(tǒng)。
8.能夠測定大型打印基板的大型平臺。
9.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。
10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
11.利用伺服馬達精確的驅(qū)動平臺。
12.正確的對焦,利用激光能夠正確得對焦測試樣品。
13.報告制作軟件,運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。

規(guī)格

型號 SFT9455系列 測定元素 原子序號22（Ti）~ 83（Bi） X射線管 管電壓：50kV管電流：1.5mA 檢測器 半導體檢測器+比例計數(shù)管 準直器 4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ） 樣品觀察 CCD照相機（帶可變焦距功能） 對焦 激光向?qū)?/td> 過濾器 電動切換（一次: Mo、二次: Co） X-ray Station 電腦、17英寸CRT 打印 噴墨打印機 膜厚測定系統(tǒng) 薄膜FP法，檢測線法 材料分析系統(tǒng) 體積FP法 測定功能 自動測定、中心檢索、畫像處理 補正功能 材料補正，已知樣品補正 定性功能 KL標記、比較顯示 統(tǒng)計處理功能 預裝Microsoft-EXCEL® 報告制作功能 預裝Microsoft-WORD® 安全機能 樣品門鎖定 防止樣品碰撞樣品 裝置診斷功能 電源 100V 15A