1、超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)厚度塊產(chǎn)品介紹 
本規(guī)程用于超聲波測(cè)厚儀的檢定和校準(zhǔn)。 
2、超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)厚度塊適用范圍 
本規(guī)程適用于新制的、使用中和修理后的數(shù)顯式超聲波測(cè)厚儀的校準(zhǔn)。 
3、依據(jù)技術(shù)規(guī)范 
JJF 1126-2004《超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》。 
4、技術(shù)要求及檢定/校準(zhǔn)條件 室內(nèi)溫度為（20±10）℃； 
儀器預(yù)熱時(shí)間：分辨率為0.1mm的儀器為15min，分辨率為0.01mm的儀器為30min。 
5、使用的儀器設(shè)備 
超聲波測(cè)厚儀用標(biāo)準(zhǔn)厚度塊和標(biāo)準(zhǔn)圓筒進(jìn)行校正。

 圓度塊（JJF1126-2004標(biāo)準(zhǔn)）
6、操作方法與步驟： 
6.1 打開(kāi)被檢儀器預(yù)熱不少于30min。

6.2 檢查儀器外觀和相互作用。

6.3 將儀器的聲速設(shè)置為5900m/s。

6.4 檢定儀器的示值變動(dòng)性： 
將探頭接插到儀器本體上，再將耦合劑（如科研甘油、機(jī)油）涂敷在9.99mm標(biāo)準(zhǔn)厚度塊的被測(cè)端面，用探頭測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)厚度塊測(cè)量面中心位置的厚度。重復(fù)對(duì)該位置連續(xù)測(cè)量10次，記下每次的示值，其zui大值與zui小值之差即為示值變動(dòng)性。 6.5 示值誤差 
首先根據(jù)說(shuō)明書(shū)要求選用適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)厚度塊對(duì)儀器進(jìn)行示值校正，如無(wú)說(shuō)明書(shū)則選擇一塊9.99mm和一塊為儀器測(cè)量上限1/2的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊作儀器高低兩端的示值校正。測(cè)量范圍分為若干檔的儀器，其示值校正應(yīng)在每檔分別進(jìn)行。 
校正完畢后，按表1規(guī)定的受檢點(diǎn)檢定儀器的示值誤差。檢定時(shí)，將探頭放置在標(biāo)準(zhǔn)厚度塊的中心位置上連續(xù)測(cè)量三次。取算術(shù)平均值作為儀器在該點(diǎn)的示值。 

6.6 曲面壁厚測(cè)量的下限及準(zhǔn)確度  按檢定示值誤差的方法將儀器校正好,然后根據(jù)表3的規(guī)定，測(cè)量與其尺寸相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)圓管的壁厚。測(cè)量時(shí),手持探頭以圓管表面任一素線為軸輕微擺動(dòng)并觀察示值，取zui小的穩(wěn)定的示值為測(cè)量結(jié)果，其準(zhǔn)確度應(yīng)符合表3的規(guī)定。對(duì)于雙晶片的探頭，其測(cè)量位置應(yīng)使兩半圓晶片間的隔聲層垂直與標(biāo)準(zhǔn)圓管的素線。

6.7 示值穩(wěn)定度  用探頭測(cè)量10.00mm的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊，記一次示值，其后每隔15min記下一次示值，連續(xù)觀察1~2h，取zui大差值為示值穩(wěn)定度。 6.6 在校準(zhǔn)的同時(shí)，認(rèn)真做好原始記錄。 6.7 擦凈被檢儀器，處理數(shù)據(jù)，出具校準(zhǔn)證書(shū)。 6.8 把標(biāo)準(zhǔn)厚度塊和標(biāo)準(zhǔn)圓筒擦凈，妥善保存。