1. 5nm光譜間隔測定
最小波長間隔5nm,符合ISO,ASTM以及JIS標(biāo)準(zhǔn),
依靠高精度光譜分離單元和256elements圖像傳感器來完成小間隔光譜測定。
2. 儲存設(shè)計
利用專用色彩軟件通過電腦實施操作,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠且易存儲。
3. SCI/SCE測定
SCI(包括鏡面光澤)
SCE(不包括鏡面光澤)
可適合測定需要或不需要鏡面光澤的樣品,如有反光或高金屬光澤的物體。
4. 顯著的穩(wěn)定性
該儀器安裝了強(qiáng)光照明的閃光氙燈,穩(wěn)定了光譜特征,所以測定有很好的穩(wěn)定性。
5. 能見度測試室,兩種類型門設(shè)計(可選擇)
設(shè)計兩種類型門,可以測定大樣品或者小樣品,可以測定超大樣品而不需剪裁,操作時間也可以保存。
6. 色度管理軟件
色度管理軟件在分析色度數(shù)據(jù)方面有很大的*性,數(shù)據(jù)以表格的形式顯示出來,方便查看和編輯。
測定方式 | 可進(jìn)行反射和透射測定,SCI(包括鏡面光澤),SCE(不包括鏡面光澤)和是否包含UV測定 |
照明/受光條件 | 積分球(150mmφ) 反射率測定:擴(kuò)散照明/8°受光(d/8、D/8切換方式) 透過率測定:擴(kuò)散照明/0°受光(D/0方式) 可進(jìn)行SCI(包括鏡面光澤)/SCE(不包括鏡面光澤)自動切換的測定 也可進(jìn)行分光測定(后分光方式)和是否包含UV的測定 |
測定方式 | 雙光束測定法(測定光,參照光)和全波長光束同時補償測定法 |
測試直徑 | 反射測量φ6.4mm、φ12.7mm、φ25.4mm、透射測量φ25mm |
測定范圍 | 380nm~780nm 5nm間隔測量 |
測定間隔 | 5nm |
受光元件 | CMOS線性圖像傳感器(256像素點) |
分光單元 | 衍射光柵 |
測定精度 | 在常溫常濕條件下,開機(jī)預(yù)熱20分鐘后;以10秒的間隔連續(xù)測量30次,⊿E*重復(fù)性在0.03以內(nèi),分光光譜曲線重復(fù)性在0.1以內(nèi)。 |
測定用時 | 3秒以內(nèi) |
測定使用光源 | D65、C、A、F6、F8、F10,視角有2°和10°視角 |
顯示項目 | L*a*b* E*、⊿L*a*b*E 、LabE、⊿LabE、XYZ、 Yxy、YI、WI、WB、⊿YI、⊿WI、⊿WB、L*C*H*、⊿L*C*H*、CMC2:1、 CMC1:1、E94、LCH、HVC、APHA、Gardner分光反射率曲線、分光光譜曲線、偏色判定圖和各種色系圖等等 |
標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)設(shè)定 | XYZ,L*a*b*,分光光譜反射率 |
光源 | 長壽命閃光氙燈 |
重量 | 約14kg |
電源 | 100V-240V AC,50/60Hz |
尺寸 | 316.4mmW×462.4mmD×251.4mmH |
標(biāo)準(zhǔn) | 符合 JIS Z 8722,ASTM E 308, ASTM E 313,ISO7724,DIN 5033,ASTM D 2244 |




































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