涂層測(cè)厚儀主要用途:
本采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
| 測(cè)量范圍 | 0-1250mm |
| 測(cè)量度 | ±3%H±1.5um |
| 顯示度 | 0~99.99um:0.1um 100um以上:1um |
| 小基體 | 10X10mm |
| 小曲率 | 凸:5mm 凹:25mm |
| 薄基體 | 0.5mm |
| 環(huán)境溫度 | 0℃~40℃相對(duì)濕度:不超過(guò)85% |
| 電源 | DC9VX1 |
涂層測(cè)厚儀主要用途:
本采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
| 測(cè)量范圍 | 0-1250mm |
| 測(cè)量度 | ±3%H±1.5um |
| 顯示度 | 0~99.99um:0.1um 100um以上:1um |
| 小基體 | 10X10mm |
| 小曲率 | 凸:5mm 凹:25mm |
| 薄基體 | 0.5mm |
| 環(huán)境溫度 | 0℃~40℃相對(duì)濕度:不超過(guò)85% |
| 電源 | DC9VX1 |
涂層測(cè)厚儀主要用途:
本采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
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| 測(cè)量度 | ±3%H±1.5um |
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| 電源 | DC9VX1 |



































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