Waveline Toposcan 技術(shù)亮點(diǎn)
Toposcan 是檢測缸孔精細(xì)加工面(如珩磨面)的理想檢驗(yàn)系統(tǒng),測量速度快,測量結(jié)果精確可靠。 由于測量儀的探頭結(jié)構(gòu)緊湊,所以既可用于光學(xué)表面檢驗(yàn),也可用于接觸式表面粗糙度測量,柔性*。
– 重量輕,可移動使用
– 符合人體工程學(xué)要求,操作簡便
– 缸孔不同直徑時調(diào)整方便
– 具有高達(dá) 210 倍放大倍率的高光學(xué)分辨率,適用于極精細(xì)結(jié)構(gòu)
– 自動確定珩磨角度































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