產(chǎn)品詳情

TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽為是進行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇。

TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測空氣懸浮粒子粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)方法。這些粒徑譜儀也經(jīng)常用于對液體中懸浮的粒子進行精確的納米粒徑檢測。.美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)進行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測技術(shù)是一種謹(jǐn)慎的技術(shù)，它可直接檢測粒子濃度，而無需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測可重復(fù)性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

特點和優(yōu)勢

• 高分辨率數(shù)據(jù) – 多達(dá) 167 個通道
• 寬粒徑范圍 – 2.5 nm 至 1,000 nm
• 快速檢測 – 16 秒內(nèi)完成粒徑分布
• 1 - 10⁷粒子/cm³的寬濃度范圍
• 靈活的配置選項；水或丁醇 CPC 工作溶液選擇；放射性或非放射性中和器選擇
• 計算機自動化流量控制
• 符合 ISO 15900:2009 標(biāo)準(zhǔn)要求的粒徑檢測方法
• 易于配置和操作
• 謹(jǐn)慎的粒子檢測： 適用于多模式樣本，不受粒子的光學(xué)特性約束。

應(yīng)用范圍

• 納米科技研究和材料合成
• 大氣研究和環(huán)境監(jiān)測
• 燃燒和發(fā)動機排氣研究
• 室內(nèi)空氣質(zhì)量檢測
• 成核研究/凝結(jié)研究
• 吸入毒理學(xué)研究

所含項

• DMA 可選式靜電分級器
• 六個 CPC 之一
• Aerosol Instrument Manager® 軟件