產品描述：

在過去30多年來，TSI SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀幫助研究者取得了氣溶膠研究的新突破，并協(xié)助校準參考材料和其它氣溶膠儀器。美國國家標準技術研究所（NIST）和世界各地的許多其它參考實驗室使用TSI SMPS進行亞微米粒徑分布測量。第三代3938型SMPS采用模塊化、基于組件的設計，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描（每次掃描小于15秒）和自動組件識別功能。TSI SMPS易于使用，并可以為研究人員提供高質量數(shù)據(jù)，是研究人員進行納米粒子粒徑分布測量的理想選擇。

詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。該系統(tǒng)同樣被應用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標準與技術局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標準參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術，在該技術方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測量精度和測量可重復性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產品，歷經30年深受研究者信任。

產品應用：

?納米技術研究和材料合成

?大氣研究和環(huán)境檢測

?燃燒和發(fā)動機排放研究

?室內空氣質量測量

?成核/凝結研究

?吸入毒理學研究

產品特點：

?高分辨率數(shù)據(jù)：高達167通道

?1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍

?符合ISO 15900:2009標準

?快速測量：<10s掃描

?寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3

?給您靈活度的組件設計

?觸摸屏控制無需電腦操作

?免工具安裝易于設置，自動發(fā)現(xiàn)組件

?審慎的顆粒測量：適合多模樣品

?不依賴于粒子和流體的光學性質

?寬系統(tǒng)配置選項：可選水介質或丁醇介質凝聚粒子計數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或*中和器

產品組件：

?與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器

?七款凝聚粒子計數(shù)器之一

?Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件