可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度和進(jìn)行痕量分析
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀。
它特別適用于無損分析超薄鍍層,痕量分析,并可完成自動(dòng)測(cè)量。
為了使每次測(cè)量都能在的條件下進(jìn)行,XDV-SDD配備了可調(diào)節(jié)選擇的準(zhǔn)直器及基本濾片。
現(xiàn)代化的硅漂移接收器能夠達(dá)到很高的分析精度及探測(cè)靈敏度。
由于有了大尺寸的準(zhǔn)直器以及超高速脈沖處理器,儀器能處理非常高的計(jì)數(shù)率。
XDV-SDD型X射線光譜儀有著出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器了。
由于使用了基本參數(shù)法,無論是固體的鍍層系統(tǒng)還是液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量。
最多可同時(shí)測(cè)量從鋁(13)到鈾(92)的24種元素。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®光譜儀裝備了高精度,可編程的X/Y平臺(tái)和電力驅(qū)動(dòng)的Z軸升降臺(tái),因而十分適用于自動(dòng)測(cè)量分析超薄鍍層或是痕量分析。





































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