X射線熒光鍍層測厚儀

產(chǎn)品型號： X-Strata 960
產(chǎn)品說明：
主要應(yīng)用領(lǐng)域：用于高精度要求電路板/半導(dǎo)體/連接器端子/五金貴金屬電鍍(如1.0uinch Au，Ag…)

主要特點:
- X-Strata 960 X熒光射線測厚儀，可快速測定各種材料構(gòu)成的多層鍍層厚度和元素組成。
- 長壽命100瓦微焦點X射線管(其他測厚儀為50瓦)。提高30%分析精度和減少50%的分析時間。
- 三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;
手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸;
固定位置樣品臺，高度230 mm更小準(zhǔn)直器,測量更小區(qū)域:最小直徑15um 圓
形準(zhǔn)直器，20x/80xCCD圖像放大倍數(shù)自由距離測量DIM： 更靈活地測量不規(guī)則
樣品(凹凸),在12.5~102mm自由聚焦范圍內(nèi)可準(zhǔn)確聚焦樣品表面任意測量點。
- 配有自動雷射聚焦功能 一體機(jī)工作站式設(shè)計，簡化設(shè)備安裝，減少占用空間。

儀器介紹:
CMI960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設(shè)計‘能測量多種幾何形體、各種尺寸的樣
品’，測定方法滿足ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987

技術(shù)參數(shù):
- 元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數(shù)和元素定量:5層(4層+基體)；最多同時15種元素定量
- X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管(可選鉬靶X射線管)
- X射線檢測: Xe封氣正比計數(shù)器，可最多裝備3種二次濾光片
- 準(zhǔn)直器: 最多4種
- 多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
- 數(shù)字脈沖處理器:4096通道數(shù)字多道分析器,包含自動波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
- CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
- 電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
- 工作環(huán)境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
- 樣品臺移動量: 程控XYZ軸：300 x 200 x 230mm; 手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸
- 儀器尺寸:H744 x W686 x D813
- 重量: 160公斤