產(chǎn)品概述:
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操作簡易,功能*
JEM-3100F 場發(fā)射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中一款,分辨率可達(dá)0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領(lǐng)域效果突出.控制系統(tǒng)使用藝術(shù)級的數(shù)字技術(shù), 充分強(qiáng)化了操作的簡易性。
產(chǎn)品特點:
- 分辨率達(dá)到0.17nm,是這一級別電鏡中。
- 理想的分析用高亮度,高穩(wěn)定性的肖特基電子槍。
- 的5軸馬達(dá)驅(qū)動測角器加強(qiáng)樣品臺精確度。
- 操作簡易的全數(shù)字化控制。
- 加載JEOL生產(chǎn)的掃描透射(STEM)系統(tǒng)和能譜儀(EDS)可升級為支持微區(qū)元素分析。





























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