4155C-半導(dǎo)體參數(shù)分析儀Agilent4155c 

 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

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詳細(xì)資料：

4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

4155c半導(dǎo)體測(cè)試儀是Agilent下一代精密半導(dǎo)體測(cè)試儀。4155c是描述高級(jí)器件的低成本、實(shí)驗(yàn)室級(jí)的參數(shù)測(cè)試儀。4155c低的電流、電壓精度和內(nèi)置的準(zhǔn)靜態(tài)CV測(cè)量能力提供了未來擴(kuò)展的基礎(chǔ)。41501B可擴(kuò)展測(cè)量能力到1A/200V，還可以在4155c上增加低的噪聲雙脈沖發(fā)生器。

4155c提供了基于PC的參數(shù)分析和表征全套方案的環(huán)境。標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)參數(shù)分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite 自動(dòng)測(cè)試軟件，運(yùn)行Windows XP 操作系統(tǒng)的PC。I/CV 3.0 Lite 提供一個(gè)圖形用戶界面，具有*的分析工具，探針驅(qū)動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試工具。

特性

· 4155c提供4個(gè)內(nèi)置的源/監(jiān)控單元（MPSMUs），兩個(gè)電壓源單元（VSUs）和兩個(gè)電壓監(jiān)控單元（ VMUs）

· 10 fA 和0.2 uV的測(cè)試精度可滿足開發(fā)新的工藝技術(shù)和評(píng)價(jià)材料

· Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements

· 完成準(zhǔn)靜態(tài)的電容對(duì)電壓測(cè)量

· 自動(dòng)提取程序參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標(biāo)

· 用超低的SMUs測(cè)量泄漏特性。

· 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動(dòng)完成器件表征。

· 用內(nèi)置的應(yīng)力測(cè)量模式完成晶片的可靠性測(cè)試

· 用圖形用戶界面實(shí)現(xiàn)“點(diǎn)擊”測(cè)試

· Windows環(huán)境提供圖形數(shù)據(jù)分析能力

· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正常。

· 待機(jī)模式消除外部電源的需要

· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測(cè)試

· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。

備注：

    本公司十年專業(yè)銷售、租賃、維修、回收二手儀器，貨源廣闊，絕大部分直接從國(guó)外引進(jìn)，成色新，價(jià)格低，

資金雄厚，庫(kù)存充足，售前嚴(yán)格，售后是我們的特點(diǎn)：

致力于為客戶提供更專業(yè)，方便，快捷的人性化服務(wù)是我們的宗旨；勇于創(chuàng)新，敢于探索是我們的優(yōu)勢(shì)；用戶至上是我們的企業(yè)文化，您的滿意是我們的追求！

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