Hot Disk M1是一套導熱系數(shù)測試的基礎(chǔ)設(shè)備，卻能提供高精度和優(yōu)秀的測試重復性。M1可測量導熱系數(shù)范圍在0.03到40W/mK的固體，粉末和膏體。

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為有限的預算設(shè)計

Hot Disk M1可測試合適尺寸（至少40mm直徑或邊長，厚度10mm）的各向同性樣品的導熱系數(shù)和熱擴散系數(shù)。更大尺寸的樣品無需特殊準備，只需兩塊樣品各有一個平面能將探頭夾在其間即可使用。在使用一個絕熱的背景材料情況下還可以進行單個樣品的測量。

Hot Disk M1也是利用Hot Disk進階型號相同的Windows軟件進行控制。這能提供深入的數(shù)據(jù)分析功能，這是在此類系統(tǒng)中不多見的。另外，Hot Disk M1可使用iPad通過WiFi連接進行簡單測試的控制，提供的便攜性。M1完整配置包含核心M1組件，一個Hot Disk Kapton探頭（8563型號，半徑9.9mm），樣品架，不銹鋼參考樣品和Windows軟件。iPad軟件可通過蘋果App Store免費下載用于導熱系數(shù)測試，這需要WiFi組件的支持。

M1系統(tǒng)的簡單性和快速使用手冊使用戶可在幾分鐘內(nèi)開始一次測試。M1系統(tǒng)緊湊的設(shè)計和靈活性使其能夠簡便的移動到新的測試地點進行測試。

技術(shù)指標

導熱系數(shù) 0.03至40W/mK

熱擴散系數(shù) 0.1至20mm²/s

測試時間 2.5至160秒

重復性 通常優(yōu)于3%（導熱系數(shù)）

精度 優(yōu)于5%（導熱系數(shù)）

可選溫度范圍 10°C至40 °C

電源要求 可適應所處國家的要求

最小樣品要求 塊體測試 10mm*40mm直徑或邊長

探頭可選類型 聚酰亞胺覆膜探頭：8563（半徑9.9mm）

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