二次離子質(zhì)譜探針

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更新時(shí)間2022-04-26

北京英格海德分析技術(shù)有限公司

廠商性質(zhì)
所在地區(qū)
實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
產(chǎn)品數(shù)量86
人氣值3138

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

二次離子質(zhì)譜探針產(chǎn)品詳情

EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用的SIMS 探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。

·光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測器

·質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu

·檢測器：離子計(jì)數(shù)探測器、正負(fù)離子探測器、10⁷cps

·質(zhì)量過濾器： 3F四級桿

·桿直徑： 9mm

·加熱： 250℃

·離子源：電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

關(guān)鍵詞：二次離子質(zhì)譜過濾器

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產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
歐戟進(jìn)口fixtest 365.106.40.40	面議	上海市	上海歐戟貿(mào)易有限公司	2021-05-16	在線詢價(jià)

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