Atomic Force Microscope (AFM) combined with Confocal Spectrometer and Optical Microscope

原子力顯微鏡共聚焦光譜儀

NanoFlex是一臺(tái)整合了掃描探針顯微鏡，共聚焦顯微鏡和拉曼光譜儀的多種*技術(shù)整合的設(shè)備。NanoFlex可以同時(shí)得到樣品表明的光譜和形態(tài)信息，可以將樣品表面的形態(tài)圖和化學(xué)組分結(jié)合起來(lái)。

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查看Solar Laser System雙色散模式單色儀
查看Solar Laser System雙色散單色儀

應(yīng)用：
掃描探針光譜；
掃描共聚焦拉曼光譜；
近場(chǎng)掃描光譜；
增強(qiáng)探針拉曼光譜(TERS)；
增強(qiáng)探針熒光光譜(TEFS)；

用途：
化學(xué)。結(jié)合掃描探針光譜和共聚焦拉曼光譜，分析有機(jī)、無(wú)機(jī)化合物的組分和結(jié)構(gòu)；
物理。分析不同襯底的表明物理特性；
生物。研究組織、細(xì)胞、細(xì)胞結(jié)構(gòu)、生物分子間的相互作用；
跨學(xué)科分析。納米科技、藥物學(xué)、材料科學(xué)、礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、油畫(huà)分析等；

NanoFlex的優(yōu)勢(shì)：
同步共聚焦光譜，形態(tài)信息；
獲得樣品表面的掃描光譜；
掃描平臺(tái)和掃描頭的合并操作；
光學(xué)機(jī)構(gòu)水平放置；
可以與正置和倒置顯微鏡聯(lián)用，測(cè)量透明或者不透明樣品；
多機(jī)構(gòu)聯(lián)動(dòng)軟件；

NanoFlex整合了：
掃描探針顯微鏡；
光學(xué)顯微鏡(正置或倒置)；
共聚焦激光顯微鏡；
拉曼光譜儀；
熒光光譜儀；

Vanadium test specimen. 30x30 um scanning field. Laser confocal image.

Single-walled carbon nanotubes (SWNTs), SPM image.

產(chǎn)品資料下載

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Nano Scan Technology還有其余AFM、SPM產(chǎn)品：

Centaur (AFM, Confocal, Raman, Fluorescence System):
Scanning AFM/Confocal/Raman/Fluorescence system for Raman/Fluorescence and AFM/Raman (TERS) imaging

Certus Optic (SPM + Optical Microscope):
integrated optical (light) and scanning probe microscopes

Certus (SPM):
Scanning Probe Microscope

Snotra (Cryo-AFM):
Scanning Probe Microscope + Cryo-Ultramicrotome