特點(diǎn):
結(jié)合用途配備豐富的功能
以DUT特性的設(shè)定,支持高重現(xiàn)性且準(zhǔn)確的測量
準(zhǔn)確的評價(jià)基于實(shí)際使用的操作條件
電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性,二極管等半導(dǎo)體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評價(jià)真實(shí)的特性,重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻,在實(shí)際的操作條件下進(jìn)行測量。
● 掃頻
● 延遲功能
● 標(biāo)記操作
● 測量條件等的設(shè)定
● 自動(dòng)高密度掃頻
● 順序測量
● 量程
● 誤差校正
● 圖表顯示
豐富的功能
● 共振點(diǎn)跟蹤測量
● 相對介電常數(shù)測量
● 外部基準(zhǔn)時(shí)鐘
● 等效電路估算
● 相對導(dǎo)磁率測量
● 存儲(chǔ)器操作
● 壓電常數(shù)計(jì)算
● 比較器 / 處理器接口
掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬



不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù),按恒定的條件進(jìn)行測量,觀察不同時(shí)間的特性變化(橫軸:時(shí)間)
“True Value”
測量真正的特性。

▲ ZA57630
![]()
從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評價(jià),應(yīng)對多樣的阻抗測量需求
±0.08%
10 µHz~36 MHz
10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms~3 Vrms
0.1 µArms~60 mArms
?5 V ~ +5 V/?40 V ~ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ~ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速測量
實(shí)現(xiàn)了業(yè)界的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時(shí)間,提高測量作業(yè)的效率。
此外,通過增加設(shè)定的測量時(shí)間,使測量結(jié)果平均化,減輕噪聲的影響??梢曅枰x擇最合適的測量時(shí)間。

4種測量模式 應(yīng)對廣泛的DUT
標(biāo)準(zhǔn)測量模式
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測量。可使用測試線及測試夾具,應(yīng)對各種形狀的試樣。

高頻測量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進(jìn)行穩(wěn)定的測量。使用 N 型連接器進(jìn)行 2 端子測量,即便配線長,也可以進(jìn)行穩(wěn)定的測量。

外部擴(kuò)展測量模式
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進(jìn)行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進(jìn)行單獨(dú)使用本儀器無法應(yīng)對的測量。

增益/相位測量模式
本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號,高精度地測量其頻率響應(yīng)(增益、相位)。

正面面板測量端子




































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