可程式濕熱交變?cè)囼?yàn)箱高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱

一、設(shè)備介紹

恒溫試驗(yàn)箱是為了適應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)需要而開(kāi)發(fā)的一種應(yīng)力篩選設(shè)備和試驗(yàn)設(shè)備，同時(shí)也運(yùn)用在中試過(guò)程中。其工作原理是根據(jù)熱血原理和制冷原理結(jié)合而成的，通過(guò)加熱器來(lái)進(jìn)行加熱同時(shí)通過(guò)制冷設(shè)備來(lái)進(jìn)行降溫，從而達(dá)到某一恒定溫度。當(dāng)產(chǎn)品在這樣一個(gè)環(huán)境下，觀察其性能、外觀的變化，為企業(yè)提供更科學(xué)可靠的產(chǎn)品。

二、設(shè)備用途

該設(shè)備主要針對(duì)電工、電子產(chǎn)品、以及其元器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

三、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB 2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

四、技術(shù)參數(shù)

溫度偏差：+2%、-3%RH

升溫時(shí)間：室溫~100℃約20min

控制溫度：±1℃±2%

五、參考圖

可程式濕熱交變?cè)囼?yàn)箱高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱