飛行時間二次離子質譜

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所在地蘇州市
更新時間2022-10-08

蘇州星源潔凈環(huán)境科技有限公司

廠商性質其他
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蘇州星源潔凈環(huán)境科技有限公司成立以來致力無塵室環(huán)境參數(shù)測試、微粒子測量及局部凈化設備設計，環(huán)境在線實時監(jiān)測系統(tǒng)等研發(fā)與創(chuàng)新，為用戶提供完備的環(huán)境測試解決方案和服務。目前公司主打兩條產品線，一條以潔凈室方面上、中、下游整體解決方案為主導；一條以濾料、濾器、濾材等性能參數(shù)檢測為主導的技術定制類測試臺。目前，公司正逐步接軌業(yè)界*技術引入中國，整合自身優(yōu)勢，圍繞無塵室整體拓展整合鏈，逐步構建環(huán)境參數(shù)檢測的便攜化、模塊化、智能化。公司是國內專業(yè)從事凈化車間、實驗室檢測的技術服務商，與國內外許多公司合作，同時還自主研發(fā)諸多高科技產品，產品應用領域廣泛，涉及制藥行業(yè)、生物制劑、醫(yī)療器械、電子、化工等等行業(yè)，產品遠銷國內外，受到客戶的，我們是凈化領域的追趕者，秉承傳統(tǒng)技術的基礎上不斷創(chuàng)新，不斷突破。

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詳細介紹飛行時間二次離子質譜飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術

飛行時間二次離子質譜產品詳情

詳細介紹

飛行時間二次離子質譜

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結構信息。

技術參數(shù)：
. 并行探測所有離子，包括有機和無機分子碎片。
. 無限的質量探測范圍（實際測量中大于1000m/z 原子量單位）。
. 透過率下實現(xiàn)高的質量分辨率。
. 的橫向和縱向空間分辨率（橫向小于100納米，縱向小于1納米）。
. 探測靈敏度可達ppm或ppb量級。
. 質量探測分辨率(M/ΔM) >1000
. 質量探測準確度 ≥20 milli 質量單位
. 反射性分析器
. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達到真空工作環(huán)境

主要特點：
. 超高的表面靈敏度(1x109 atoms/cm2)
· 操作簡單(? day training)
· 1 分鐘分析，樣品處理流程 <7分鐘
· 導體和絕緣體表面均可測試
· 可得到元素和分子信息
· 從元素中分離出普通有機物
· 正電和負電的二次離子質譜
· 同位素分析
· 分析面積 ~0.5 mm
· 濺射預清洗表面
· 提供材料數(shù)據(jù)庫

關鍵詞：二次離子質譜

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產品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
歐戟進口fixtest 365.106.40.40	面議	上海市	上海歐戟貿易有限公司	2021-05-16	在線詢價

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