PS-200紫外可見光譜儀

PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。

特點：        

便攜堅固的鋁制外殼設計        

APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的**測量        

在標定的測量范圍300—1000nm((NIST 可追溯性)內(nèi)分辨率小于1nm

Apogee 紫外近紅外光譜儀 PS-200配置：

1：光譜儀主機

2：2米光纖線纜

3：余弦校正放射頭黑帽

4：水平安裝座

5：校準證書

6：USB驅(qū)動、采集軟件等文件

7：藍色USB線纜

8：手提箱

9：手持延長桿

10:1年保修

標準軟件特征：    

    發(fā)光測量：測量以瓦特每平方米每納米或摩爾每平方米每秒每納米為單位；同時顯示完整的PPF值。
    照明度測量：測量以流明每平方米每納米或尺燭光每平方英尺為單位；同時顯示完整的LUX值。
    CIE（國際照明委員會）應用：系統(tǒng)顯示CIE制定的1931年X、Y色度圖。照明模式下顯示占有優(yōu)勢的波長和純度，發(fā)光模式下顯示顏色溫度。
    分光比色計：測量反射光線的顏色。同時系統(tǒng)會顯示非自照明的顏色空間圖表作為參照，圖表對色彩濃度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩評估和說明，并提供新的Delta-E色彩對比表。
    化學成分測量：測量化學成分的濃度。同時系統(tǒng)會顯示濃度標度，或者將之前已經(jīng)測量好的化學成分濃度與未知的樣品做對比。
    UV測量：測量UV能量分布狀態(tài)。將UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特為單位繪制線形圖；提供紅斑和黑素原發(fā)生作用的*大時間。

Apogee 紫外近紅外光譜儀 PS-200技術(shù)指標：    

光譜波長：190～850nm

校正波長范圍：300～850nm.

波長分辨率：0.85nm

探測器類型：CCD 2048像素

光柵類型：全部手寫和統(tǒng)計，590 g/mm

數(shù)字轉(zhuǎn)化：16 bit

信號噪聲比：1000:1

散射光：0.02%在435nm ; 0.2%在200nm

重復性：＜1%

不準確度：±10%

探測器曝光時間：1ms-65s

定向響應（到80°）：±5%

輸出接口：USB

電源要求：5V DC/100mA，采用USB線纜

工作溫度：0-60℃

光纜長度：2米

尺寸：69*100*150mm

重量：900g