1.輻射騷擾試驗(yàn)

測試說明
電子設(shè)備在工作時(shí)，由于高頻信號(hào)及非線性器件的存在會(huì)產(chǎn)生高頻的干擾信號(hào)，這些信號(hào)會(huì)通過電磁波輻射的方式發(fā)射到空間中，一方面會(huì)對設(shè)備自身性能產(chǎn)生影響，另外一方面也會(huì)影響周邊其它設(shè)備。因此需要對電子設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的干擾信號(hào)大小進(jìn)行測試并加以
限制，以保證其它敏感設(shè)備的正常工作。
指標(biāo)說明
測試等級(jí): 30MHz一6GHz
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)

及采用類似測試方法的標(biāo)準(zhǔn)
測試環(huán)境: 電波暗室

2.傳導(dǎo)騷擾試驗(yàn)

測試說明
電子設(shè)備在工作時(shí)，由于高頻信號(hào)及非線性器件的存在，會(huì)產(chǎn)生高頻的干擾信號(hào)，這些信號(hào)會(huì)通過電源線、信號(hào)線等互連電纜傳播出去。一方面會(huì)對自身性能產(chǎn)生影響，另外一方面也會(huì)影響互連其它設(shè)備。因此需要對電子設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的傳導(dǎo)干擾信號(hào)大小進(jìn)行測試并加以限制，以保證其它接收設(shè)備的正常工作。
指標(biāo)說明
測試等級(jí): 150kHz一30MHz
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)
及采用類似測試方法的標(biāo)準(zhǔn)
測試環(huán)境: 電磁屏蔽室


3.射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)

測試說明
自然空間內(nèi)存在大量的廣播、電視、手機(jī)等電磁信號(hào)，電子設(shè)備內(nèi)部也存在大量的電磁信號(hào)，這些電磁發(fā)射信號(hào)會(huì)通過空間傳播的方式進(jìn)入電子設(shè)備內(nèi)部，并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)，從而造成電子設(shè)備的性能下降或功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作，必須對其抗力進(jìn)行測試。
指標(biāo)說明
測試等級(jí): 80MHz一6GHz 10V/m 80%AM
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 17626. 3
IEC/ISO 61000-4-3
及采用類似測試方法的標(biāo)準(zhǔn)
測試環(huán)境：由油日吝室

4.射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

測試說明
電子設(shè)備內(nèi)部和外部都存在大量的互連電纜，電纜上存在的干擾信號(hào)會(huì)通過連接線進(jìn)入電子設(shè)備內(nèi)部并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)，從而造成電子設(shè)備的性能下降或者功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作，必須對其傳導(dǎo)抗力進(jìn)行測試。
指標(biāo)說明
測試等級(jí): 150kHz-80MHz 140dBuV typ
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 17626. 6
IEC/ISO 61000-4-6
測試環(huán)境: 電磁屏蔽室

5.靜電放電抗擾度試驗(yàn)

6.電快速脈沖群試驗(yàn)

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通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)

通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)

通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)

通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)

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