· 大檢測(cè)范圍,大角度范圍,高精度檢測(cè)
· 粉末、織構(gòu)、應(yīng)力和殘余奧氏體分析
· 可選工件轉(zhuǎn)換裝置和外部預(yù)定位系統(tǒng)
· 快速實(shí)時(shí)檢測(cè),包括1D和2D檢測(cè)
· 可選掠入式射束、反射計(jì)、薄膜分析、反分辨率模式,等
· 可選針對(duì)高分辨率分析的顯微鏡鏡頭和用于顯微衍射分析的光學(xué)組件
德國(guó)SEIFERT Analytical X-ray可根據(jù)用戶(hù)的應(yīng)用和要求,提供定制化的系統(tǒng)配置。
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