EDX-800能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導體以及各種合 金、貴金屬成份分析.

主要特點
●分析元素范圍　Cl－Ｕ
●分析元素的濃度范圍　ppm—99%
●整機穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒

●美國原裝高靈敏電制冷Si(Pin)探測器

●電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數(shù)字脈沖處理器技術

●優(yōu)異的峰背比、的痕量分析靈敏度

● 50KV,50W自防護X-射線管

●復合濾光片智能切換技術

產(chǎn)品特征：

☆    可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛

☆    集成FP法，Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗系數(shù)法

☆    安全聯(lián)動裝置，軟硬結(jié)合的輻射設計

☆    操作簡單、一鍵式操作

☆    智能軟件自動參數(shù)設定和選擇濾光片

☆    X射線管超溫保護

☆    電子冷卻，無需液氮和其它耗材

技術規(guī)格