應(yīng)用
(1)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究;
(2)電化學(xué)分析研究;
(3)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、*功能材料以及傳感器的性能研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評價。
硬件特點(diǎn)
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可擴(kuò)展至±200V)
● 電流控制范圍:±2.0A(可擴(kuò)展至20A)
● 電位分辨率:10μV,電流分辨率:1pA(可延伸至100fA)


① 數(shù)據(jù)分析
① 交流阻抗



CS系列電化學(xué)工作站的電流控制范圍為±2.0A,槽壓輸出≥21V,可滿足燃料動力電池、大功率電池充放電、電化學(xué)電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用專用的功率擴(kuò)展器,輸出電流可達(dá)20A,槽壓±200V。
⑥ 全浮地測量
CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極,可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究,如用于高壓釜電化學(xué)測試(釜體接地),大地中金屬構(gòu)件(橋梁、混凝土鋼筋)的在線腐蝕研究等。
⑦ 光電測試模塊
CS電化學(xué)工作站可以與光強(qiáng)計、分光光度計聯(lián)用,用于光電化學(xué)測量,在進(jìn)行電化學(xué)測量的同時記錄光電流或光譜響應(yīng)信號。
⑧ 自定義方法
支持用戶自定義組合測量,用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進(jìn)行某一測試方法或多種方法的組合測試,用于無人值守下的定時自動測量;
提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例,方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法;
提供用戶自定義腳本編寫范例,用于實現(xiàn)您的電化學(xué)實驗技術(shù)。
| 恒電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:±2.0A |
| 電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度:1pA |
| 電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程:2nA~2A, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF | 輸出電流:2.0A |
| 槽壓輸出:±21V (可擴(kuò)展至±200V) | 電流掃描增量:1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
| SWV頻率:0.001~100KHz | CV的最小電位增量:0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1KHz | 電流與電位量程:自動設(shè)置 |
| DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
| 通訊接口:USB2.0 | 儀器重量:6.5Kg |
| 外形尺寸(cm):36.4(W)X32.0(D)X16.0 (H) |
| 信號發(fā)生器 | |
| 頻率響應(yīng):10μHz~1MHz | 交流信號幅值:1mV~2500mV |
| 頻率精確度:0.005% | 信號分辨率:0.1mV RMS |
| DDS輸出阻抗:50Ω | 直流偏壓:-10V~+10V |
| 正弦波失真率:<1% | 波形:正弦波,三角波,方波 |
| 掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 | |
| 信號分析器 | |
| 積分時間:106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
| 最小積分時間:10mS 或者一個循環(huán)的最長時間 | |
| 直流偏置補(bǔ)償 | |
| 電位補(bǔ)償范圍:-10V~+10V | 電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A |
| 帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) | |
1)儀器主機(jī)1臺
2) CS Studio測試與分析軟件1套
3)模擬電解池1個
4)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5)電極電纜線1條
6)電腦(選配*)
| 功能方法 | CS150H | CS300H | CS310H | CS350H | |
| 穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位(OCP) | ● | ● | ● | ● |
| 恒電位極化(i-t曲線) | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流極化 | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位掃描(Tafel曲線) | ● | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描(DGP) | ● | ● | ● | ● | |
| 電位掃描-階躍 | ● | ||||
| 暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● |
| 任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位階躍(VSTEP) | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流階躍(ISTEP) | ● | ● | ● | ● | |
| 計時分析 | 計時電位法(CP) | ● | ● | ● | |
| 計時電流法(CA) | ● | ● | ● | ||
| 計時電量法(CC) | ● | ● | ● | ||
| 伏安分析 | 線性掃描伏安(LSV) | ● | ● | ● | ● |
| 線性循環(huán)伏安(CV) | ● | ● | ● | ● | |
| 階梯循環(huán)伏安(SCV) | ● | ● | |||
| 方波伏安(SWV) | ● | ● | |||
| 差分脈沖伏安(DPV) | ● | ● | |||
| 常規(guī)脈沖伏安(NPV) | ● | ● | |||
| 差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV) | ● | ● | |||
| 交流伏安(ACV) | ● | ● | |||
| 二次諧波交流伏安(SHACV) | ● | ● | |||
| 傅里葉變換交流伏安(FTACV) | ● | ● | |||
| 電流檢測 | 差分脈沖電流檢測(DPA) | ● | |||
| 雙差分脈沖電流檢測(DDPA) | ● | ||||
| 三脈沖電流檢測(TPA) | ● | ||||
| 積分脈沖電流檢測(IPAD) | ● | ||||
| 溶出伏安 | 電位溶出分析(PSA) | ● | ● | ||
| 線性掃描溶出伏安(LSSV) | ● | ● | |||
| 階梯溶出伏安(SCSV) | ● | ● | |||
| 方波溶出伏安(SWSV) | ● | ● | |||
| 差分脈沖溶出伏安(DPSV) | ● | ● | |||
| 常規(guī)脈沖溶出伏安(NPSV) | ● | ● | |||
| 差分常規(guī)脈沖溶出伏安(DNPSV) | ● | ● | |||
| 交流阻抗 | 阻抗-頻率掃描 | ● | ● | ||
| 阻抗-時間掃描 | ● | ● | |||
| 阻抗-電位掃描(Mott-Schottky 曲線) | ● | ● | |||
| 充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● | ● |
| 恒電流充放電(GCD) | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位充放電 | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT) | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT) | ● | ● | ● | ● | |
| 雙恒測量 | 氫擴(kuò)散測試(HDT) | ||||
| 盤環(huán)電極測試 | |||||
| 擴(kuò)展測量 | 電化學(xué)噪聲(EN) | ● | ● | ● | ● |
| 數(shù)字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | |
| 電化學(xué)溶解/沉積 | ● | ● | ● | ● | |
| 控制電位電解庫倫法(BE) | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法(EPR) | ● | ● | ● | ● | |
| 溶液電阻測量 | ● | ● | ● | ● | |
| 循環(huán)極化曲線(CPP) | ● | ● | ● | ● | |
伏安分析中帶#號的方法包括相應(yīng)的溶出伏安方法。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。




































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