簡介：

紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)（UV-VIS-NIR Spectroscopy）是利用某些物質(zhì)的分子吸收紫外(200~400nm)、可見光(400~780nm)、近紅外(780~3 000nm)區(qū)域的輻射來進(jìn)行分析測定的方法。廣泛用于有機(jī)和無機(jī)物質(zhì)的定性和定量測定以及純度鑒定、結(jié)構(gòu)分析。

光學(xué)系統(tǒng)圖

系統(tǒng)框圖

應(yīng)用領(lǐng)域：

紫外可見近紅外分光光度儀可實(shí)現(xiàn)固體、薄膜、粉末、液體材料反射、透射、吸收的無損測量。適用于薄膜材料或溶液的吸收、透射和反射光譜的測定，也可用于光學(xué)材料（包括高性能的玻璃和鍍膜）的測量，具有分析精度高、測量范圍廣、分析速度快、樣品用量少等優(yōu)點(diǎn)，UV-VIS-NIR Spectroscopy已成為探索自然、發(fā)展科學(xué)技術(shù)和生產(chǎn)的強(qiáng)有力的工具，是現(xiàn)代化分析實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)儀器之一。

主要技術(shù)指標(biāo)：

工作波長范圍：190~2600nm

測量方式：透過、反射

波長準(zhǔn)確度：±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR）

波長重復(fù)性：0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR）

采樣間隔：0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm

光度范圍：0.300～2.5A

光度準(zhǔn)確度：±0.3%T

光度重復(fù)性：0.2%T

基線平直度：±0.008A（200~2500nm，預(yù)熱30分鐘后）

光譜帶寬：0.2nm~10nm

雜散光：≤0.2%T（220nm）

外形尺寸：850×610×250mm